AQ6370C 光谱分析仪
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产品描述：
Q8341 光谱分析仪使用波长范围为350到1000 nm的Michelson干涉仪。干涉仪的机械结构允许在频率模式下的分辨率为1pm或1ghz。对于这种尺寸的干涉仪，这种分辨率和10 pm的测量精度是单色仪无法达到的，因此可以精确测量高级光学元件。它还实现了世界上最快的测量速度- 0.5秒。这种最高分辨率对于蓝色和蓝紫色激光二极管的分析特别有用，使Q8341成为下一代激光二极管和越来越小的光学拾取器研究的绝佳选择。使用傅里叶光谱可以真实测量相干长度，分辨率高达1µm。Q8341允许高达40毫米的值进行分析。计算本身是在击键时自动完成的。在光谱范围内，可以使用曲线拟合函数。内置的HeNe激光器作为波长源，允许长期校准的波长性能。OSA的特点是体积小，重量只有15公斤。
特点:
波长范围350 ~ 1000nm
Max分辨率0.01 nm
测量精度0.01 nm
扫描速度快0.5 s
相干测量到40 mm，分辨率为1µm
ADVANTEST / 爱德万 Q8341 光谱分析仪的波长测量范围为 350nm 至 1000nm2。它采用傅立叶变换干涉仪，具有测量速度快、波长分辨率高等特点2。其主要应用领域如下：
- 光电子器件研发与生产2：该光谱分析仪可用于 CD/DVD 激光二极管、蓝紫色激光二极管等短波长激光二极管的性能评估，能帮助研发人员优化设计，提高产品性能，也可用于生产线上的质量检测，确保产品符合规格要求。
- 光通信领域：可用于分析光通信系统中的光源光谱，确保光源的波长、功率等参数符合要求，还可用于检测光纤中的光信号光谱，帮助工程师监测和优化光通信链路的性能，保障信号传输的稳定性和准确性。
- 科研领域2：在光学物理、材料科学等科研方向，可用于研究物质与光的相互作用，分析材料的光学特性。其高分辨率和快速测量能力有助于科学家对新型光学材料的光谱特性进行深入研究，为新材料的开发和应用提供数据支持。
- 光学计量领域：可作为波长测量的标准仪器，用于校准其他光学测量设备。其内置的氦氖激光可作为波长参考，能确保高精度的波长测量，为光学计量提供可靠的测量手段，保证光学测量结果的准确性和一致性。
- 激光加工领域：在激光切割、激光焊接等激光加工过程中，Q8341 可用于监测激光光源的光谱特性，确保激光的波长和功率稳定，从而保证激光加工的质量和精度，有助于提高加工效率和产品合格率。
