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N7788B 是集成铌酸锂偏振控制器与高精度偏振计一体化台式测试设备，采用自研单次扫描测量技术，对标行业标准琼斯矩阵本征分析法，一套设备可同步完成器件损耗、偏振、色散全参数光谱扫描测量。内置光路切换结构实现连续自校准，抗光纤抖动、环境漂移干扰能力强，无需多次扫描取平均即可获得高精度数据，C/L 全波段完整测量流程可控制在 10 秒内，大幅提升产线测试吞吐效率。
参数详情
可选波长波段：选件 300（1270–1375nm O 波段）；选件 400（1270–1620nm O/C/L 波段）；选件 500（1460–1620nm C/L 波段）
DGD 测量量程：0–1000ps
PMD 测量量程：0–300ps
DGD 测量不确定度：±(30fs+0.3%×DGD)
PDL 测量精度：C 波段 ±(0.05dB+4%×PDL)，O 波段 ±(0.10dB+4%×PDL)
偏振态测量精度：典型 1.5°
插入损耗：1270–1375nm＜6dB，1375–1620nm＜5dB
输入光功率范围：-50dBm~+7dBm
无源光器件光谱测试：WDM、光滤波器、隔离器、环行器全波段 PDL 与 PMD 扫描检测
光放大器件研发：EDFA、SOA 增益平坦度、偏振相关增益表征
动态光通信组件：ROADM、光衰减器、光开关波长相关偏振损耗测试
特种光纤标定：单模光纤、保偏光纤、色散补偿光纤差分群延迟测量
自动化 ATE 量产产线：多批次无源器件高速批量光谱参数自动检测
相干光通信实验：偏振控制器件、干涉光路偏振态与色散精密表征