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TSL-550 采用外腔 Littrow 光栅谐振架构，全波段无跳模连续扫频，兼顾高输出光功率与极低 ASE 噪声，信噪比表现优异。机型分 A 标准精度、C 高精度两个版本，覆盖 O/E/S/C/L/U 全通信波段，支持波长细调、相干稳定控制，内置高速扫描算法，扫描速率优于传统光源，大幅提升产线检测效率。搭配原厂功率计、偏振控制器可搭建一体化扫描测试系统，自动完成 IL、WDL、PDL 全套无源器件指标测试，标配 GPIB、USB 程控接口兼容 SCPI 指令，适配自动化 ATE 平台，机身台式紧凑型设计，兼顾实验室长期研发与光器件量产质检场景。
参数详情
波段规格：O/ES/SCL/C/LU 多波段可选，完整覆盖 1260~1680nm
波长精度：A 型 ±15pm，C 型高精度 ±3pm
输出光功率：典型≥+10dBm，最高可达 + 13dBm
光谱信噪比：≥90dB/0.1nm
线宽：＜100kHz 窄线宽
扫描速度：最高 200nm/s，全程无跳模
波长分辨率：0.1pm 精细微调
偏振消光比：≥45dB
输出接口：标准 FC 光纤接口
通讯接口：GPIB、USB，SCPI 程控指令
无源光器件检测：耦合器、隔离器、WDM、光纤光栅、光开关 IL/WDL/PDL 测试
ROADM 系统验证：WSS 波长选择开关、波长阻塞器消光比与串扰表征
硅光子研发：微环谐振腔、集成光波导光谱、谐振特性测量
光纤传输测试：单模 / 保偏光纤色散、损耗、偏振相关参数标定
干涉与相干实验：OCT 光学相干断层、干涉仪、光谱分析实验
光通信产线自动化：DWDM 无源组件高速批量扫描分选
高校光子实验室：光纤光学、波导器件、光谱特性教学测试