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是适配 81250 ParBERT 并行误码测试平台的码型发生前端子卡，必须搭载在 E4861B 基板模块内使用。单张 E4861B 基板最多安装两块 E4862B，实现双通道高速数据流输出。模块用于生成 NRZ 高速测试码流，支持差分与单端电气信号输出，内置 0~500ps 可调延时链路，可完成抖动注入测试。单通道搭载 16Mbit 缓存，支持标准伪随机序列、伪随机字序列与自定义码型加载。
参数详情
适配载体：E4861B VXI 基板模块
适配主机：81250 ParBERT 并行误码测试仪
速率区间：21 Mb/s ~ 3.35 Gb/s
信号制式：NRZ 码，支持极性翻转
输出模式：差分输出、单端输出
输出阻抗：50 Ω
输出幅度范围：0.1 Vpp ~ 1.8 Vpp
上升下降时间（20%-80%）：典型 60 ps，最大 75 ps
固有输出抖动：＜30 ps pp（典型值）
高速串行总线测试：PCIe1.0、SATA、FireWire、InfiniBand 电气接口激励测试
存储通信测试：光纤通道串行收发芯片发送端信号仿真
以太网测试：千兆以太网、XAUI 多路并行电接口测试
半导体芯片验证：多路 SerDes、串并转换芯片压力测试
PCB 信号完整性：高速背板、高速线缆传输特性仿真测试
通信器件研发：复用 / 解复用器件、信号中继芯片性能测试
自动化产线：高速通信集成电路并行多通道批量测试
实验室研发：眼图扫描、抖动容限、受压力眼测试信号激励