SR785 是美国 Stanford Research Systems（SRS 斯坦福）高性能双通道 FFT 动态信号分析仪，覆盖直流至 102.4kHz 低频段测量，集成信号激励源、频谱分析、频响测试、倍频程噪声分析、阶次跟踪功能，一台设备兼顾频谱仪、网络分析仪、振动分析仪、噪声分析仪能力。具备优异动态范围与极低失真，支持双通道同步采集，可测量自谱、互谱、传递函数、相干函数，广泛用于声学、振动模态、控制系统、传感器、音频器件低频特性测试，是高校实验室与工业研发经典机型。

参数详情

频率范围：DC～102.4 kHz

输入通道：2 通道，支持差分输入

FFT 动态范围：典型 90dB；扫频正弦模式最高 145dB

实时带宽：102.4 kHz

FFT 分辨率：100/200/400/800 线

内置激励源：低失真正弦、扫频正弦、白噪声、粉红噪声、Chirp 信号

标准测量功能：FFT 频谱、相关性分析、1/1、1/3、1/12 倍频程分析、阶次跟踪、时域波形录制、直方图统计

曲线拟合：最高 20 极点 / 20 零点系统辨识

内存配置：标配 8MSamples，可选升级 32MSamples

输入阻抗：1MΩ