SR770 是美国 Stanford Research Systems（SRS 斯坦福）单通道 FFT 频谱分析仪，面向直流至 100kHz 低频测试，内置低失真合成信号源，可完成频谱测量与系统传递函数测试。采用 16bit ADC 与高速 DSP 运算，拥有 90dB 动态范围，实时带宽 100kHz，支持多种窗函数、谐波分析、倍频程噪声分析。适合声学、振动、音频、电源低频信号分析；区别于双通道 SR785，SR770 仅单通道，无法同步采集输入输出信号做高精度传递函数测试。

参数详情

频率范围：476μHz～100kHz

输入通道：1 通道（单端 / 差分输入）

实时带宽：100kHz

FFT 动态范围：90dB

ADC 位数：16 bit

内置激励源：正弦、扫频、白噪声、粉红噪声、Chirp 信号

分析功能：频谱、THD 谐波失真、边带分析、倍频程噪声测量

输入阻抗：1MΩ

接口：GPIB、RS232，支持程控数据导出

可选功能：波形存储、打印输出