描述：

ANRITSU MU150123A 是一种电子测试设备，主要用于集成电路（如芯片、IC、晶圆和 BMP）的制造测试。它由测量头、控制器和外围设备（带信号输入/输出路径）组成。测量头装有各种光电元件、放大器、滤波器、A/D 转换器、波形比较器和一个可快速执行作的专用微处理器。该处理器连接到控制器，控制器显示测试结果和测量结果。MU150123A 提供同步测量设备，结合多种功能进行全面测量。该系统可以高精度测量各种信号参数，例如保真度（线性度、频率响应、功率增益和谐波失真）。

此外，该装置可以针对不同类型的测量进行快速重新配置。ANRITSU MU150123A 配备了双通道输入和输出接口，用于高性能信号测试。它在两个通道上都具有波形重放功能，允许输出重放到输入。此功能可用于实时波形测试，从而能够快速排除制造和测试过程中的电路性能问题。MU150123A 还提供内置的自动测试功能。它可以用单个命令测量各种信号源的参数，大大缩短了测试时间。此外，该机器可以集成到生产线中，提供高度的自动化和自检能力。

特点：

1. 接口类型：光学输入接口，适用于 10/10.7G 速率的光信号接收 。
2. 比特率：支持 9.95328 Gbit/s 和 10.709225 Gbit/s 的高速数据传输 。
3. 测量条件：

• 温度范围：10°C 至 40°C 。
• 光输入电平：-12 dBm 至 -10 dBm 。
• 测量时间：60 秒 。
• 光输入波长：1310 nm 和 1550 nm 。