- 产品详情
- 在线询价
- 应用领域
DSX100i 属于倒置式光电一体化工业数码显微镜,不含激光共聚焦扫描光路,依靠 EFI 全域景深合成技术解决凹凸样品景深不足难题,物镜布置于载物台下方,可直接观测晶圆底部、培养皿细胞、倒装元器件底面,集成成像、2D 尺寸测量、3D 形貌重构功能,触屏可视化操控,适配半导体封装质检、细胞倒置培养观测、精密零部件缺陷检测,满足工业质检溯源管控标准。
参数详情
光学变焦倍率:16 倍连续电动变焦,总放大倍率 27×~5400×
成像相机:1800 万像素制冷 CCD 成像单元
景深模式:全自动 EFI 景深堆叠合成,单次最高堆叠 999 层
照明系统:四分区独立环形 LED 落射光源,可加装透射照明模块
载物台:电动 XY/Z 三轴精密平台,Z 轴步进精度 0.01μm
观测模式:明场、暗场、斜照明、DIC 微分干涉一体化切换
机身结构:倒置光路,适配培养皿、晶圆、大尺寸块状工件
整机净重:44kg,供电 220V 50Hz
半导体行业:PCB 焊点形貌检测、芯片封装缺陷观测、晶圆表面划伤与颗粒物排查
精密制造:五金零部件磨损形貌、微小注塑件瑕疵、焊缝截面微观检测
生物实验室:倒置培养细胞形态观测、组织切片无损成像
材料检测:涂层厚度剖析、复合材料断面结构、陶瓷裂纹微观分析
