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81949A 为单插槽插拔式紧凑型高功率可调激光模块，继承安捷伦光测试平台技术，适配 8163A/B、8164A/B、8166A/B 光波测试主机，完整覆盖 C+L 通信波段，实现全波段无跳模连续扫描。模块内置波长监测单元，集成相干控制与 SBS 受激布里渊散射抑制功能，高功率输出状态下抑制光纤非线性带来的测试干扰，减少外部光放大器配置需求。兼容 N7700A 光子测试软件与 SCPI 程控，支持多模块并联组建多通道 DWDM 测试系统。
参数详情
型号：81949A
波长范围：1520‑1630nm（C+L 波段）
最大输出功率：+13dBm
绝对波长精度：±100pm，内置波长计模式可达 ±20pm
波长重复性：±3pm；24h 波长稳定性 ±5pm
调谐速度：100nm 典型 3s，全范围无跳模调谐
边模抑制比：≥50dB；源自发辐射比≥45dB/nm
线宽：相干关闭典型 100kHz，相干开启＞50MHz
输出光纤：单模光纤，可选保偏光纤选件，FC 接口
兼容主机：8163A/B、8164A/B、8166A/B 光波测试系统
核心功能：无跳模波长扫描、高功率器件激励测试、SBS 受激布里渊散射抑制、C+L 波段 DWDM 器件扫描测试、光放大器饱和特性测试、程控自动化序列测试、测试数据存储导出
光放大器件：C+L 波段 EDFA 掺铒光纤放大器增益、饱和输出、噪声系数表征
光无源器件：C+L 波段 DWDM 波分复用器、光滤波器、耦合器插入损耗、隔离度测试
光子学研发：光纤非线性效应、受激布里渊散射实验研究
硅光器件：硅光芯片、集成光子器件光谱响应测试
电子制造产线：光器件自动化 ATE 批量检测
高校科研：C+L 波段光通信、光纤传感相关实验测试