Agilent/安捷伦 N7782B 1640 nm PER分析仪 Keysight 是德

描述：

N7782B 系列偏振消光比（PER）分析仪专为高速、高精度地测试保偏光纤中的 PER 而设计。极化测量原理保证了对高达 50 dB 的 PER 值的可靠测量。

实时测量功能与自动化接口相结合，使该装置非常适合集成到制造系统中，例如用于半导体激光管和平面波导组件的尾管站。提供模拟接口，用于将系统集成到控制回路应用中。

特点：

• 精确的 PER 测量高达 50 dB。
• 实时显示。
• 易于使用： 可靠的结果，不受作员技能的影响。
• 提供扫描波长和加热/拉伸方法。
• 测量 PER 与波长的关系。
• 快/慢轴检测。
• 仪器波长范围为 1260 nm 至 1640 nm。
• 内部固定波长源可用于 1310 nm 和 1550 nm。