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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 高带宽2：具备 33GHz 模拟带宽，可精确表征高达 50Gb/s 的高速信号，能满足 PCIe、SerDes 等高速协议测试需求。
- 高采样率与深存储1：2 通道时采样率为 80GSa/s，4 通道时为 40GSa/s。存储深度高达 2Gpts，标准配置下部分型号每通道有 50Mpts 存储深度，可支持长时间信号捕获，兼顾高采样率与宽时间窗口分析。
- 低噪声与高精度：拥有行业最低的示波器本底噪声，在 33GHz、50mV / 格时为 2.15mVrms，抖动测量本底小于 100fs，新校准技术实现了行业领先的无杂散动态范围，确保测量精度。
- 丰富的触发与分析功能：支持时钟恢复触发、串行数据触发（如 USB、HDMI）、异常信号触发等多种模式。集成 InfiniiScan + 自动分析工具，可快速定位信号毛刺、抖动等异常。还内置抖动分析套件，能分离随机抖动（RJ）与确定性抖动（DJ），支持 PLL 特性评估。
- 可升级的探头系统：配备业内首款 30GHz 示波器探测系统，探头放大器 S 参数可完全定制，能为每个探头提供精确校正。同时，探头带宽可升级，若初始购买 16GHz 探头，后续可升级以满足不同需求。
- 软件支持：提供丰富的特定应用测量软件，预装的一致性测试软件综合了标准委员会中众多是德工程师的专业知识。还支持直接使用 MATLAB 软件，方便用户制作自定义测量和分析例程等。
- 高速串行总线测试：支持 SAS 6G、SATA 6G、SAS 12G、GDDR5、PCIe Gen 3 等新兴技术，可用于这些高速串行总线的信号完整性测试，确保数据传输的准确性和稳定性。
- 光通信测试：能够直接对 K 和 Ka 频段进行数字化处理，轻松分析 100GbE 复杂光信号，也适用于光纤通道等光通信系统的测试，可对光信号的电域特性进行精确测量和分析。
- 5G 通信测试：凭借其 33GHz 的高带宽和高精度测量能力，可用于 5G 基站、终端设备等相关信号测试，帮助工程师对 5G 信号的调制解调、信号质量等进行评估。
- 集成电路设计与测试：在芯片设计过程中，可用于测试芯片引脚的高速信号，分析芯片内部时钟信号、数据信号的质量，帮助工程师发现和解决信号完整性问题，确保芯片性能。
- 射频信号分析：可用于识别宽带射频信号的频谱内容，分析射频信号的时域特性，为射频电路设计、调试和优化提供有力支持。
