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供应 Agilent N7788BD 光元器件分析仪1240 nm 至 1650 nm 工作波长范围
欧阳R:13537;;;;229325
Agilent N7788BD光元器件分析仪
主要特性与技术指标的
主要优点
单次扫描的准确性 高：无需对多个扫描进行平均
测量速度高测量速度
只需不到10秒即可在C / L波段完成完整测量（无需等待多次平均）
坚固耐用的光纤运动/振动和漂移
描述
Keysight Technologies借助N7788BD组件分析仪突破了组件测量的困难限。它的专有技术可与 的Jones-Matrix-Eigenanalysis（JME）相媲美，后者是测量光学设备的偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）的标准方法。
是德科技的新型单次扫描技术可提供一系列优势来测试整套参数：
DGD / PMD
PDL
功率/损耗
TE / TM损耗
2阶PMD偏振的
主偏振态（PSP）
Jones和Mueller矩阵
专为制造车间而设计
高通量：在10秒钟内即可完成对C和L波段的完整分析！
软件驱动程序：一系列软件驱动程序可用于系统的外部控制。这样可以轻松集成到常见的ERP系统中。
远程控制：支持通过LAN或Internet控制仪器。这支持自动化以及故障排除。
报告生成：支持生成PDF报告。包括布局在内的内容可由用户配置。
实时功率读取：通过提供实时功率读取功能，可以对未连接的组件进行高吞吐量测量，从而实现新设备的光纤耦合。
供应 Agilent N7788BD 光元器件分析仪1240 nm 至 1650 nm 工作波长范围
欧阳R:13537;;;;229325
Agilent N7788BD光元器件分析仪
主要特性与技术指标的
主要优点
单次扫描的准确性 高：无需对多个扫描进行平均
测量速度高测量速度
只需不到10秒即可在C / L波段完成完整测量（无需等待多次平均）
坚固耐用的光纤运动/振动和漂移
描述
Keysight Technologies借助N7788BD组件分析仪突破了组件测量的困难限。它的专有技术可与 的Jones-Matrix-Eigenanalysis（JME）相媲美，后者是测量光学设备的偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）的标准方法。
是德科技的新型单次扫描技术可提供一系列优势来测试整套参数：
DGD / PMD
PDL
功率/损耗
TE / TM损耗
2阶PMD偏振的
主偏振态（PSP）
Jones和Mueller矩阵
专为制造车间而设计
高通量：在10秒钟内即可完成对C和L波段的完整分析！
软件驱动程序：一系列软件驱动程序可用于系统的外部控制。这样可以轻松集成到常见的ERP系统中。
远程控制：支持通过LAN或Internet控制仪器。这支持自动化以及故障排除。
报告生成：支持生成PDF报告。包括布局在内的内容可由用户配置。
实时功率读取：通过提供实时功率读取功能，可以对未连接的组件进行高吞吐量测量，从而实现新设备的光纤耦合。