产品描述：

4156A 是惠普的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应。

HP 4156A 是下一代精密半导体参数分析仪。您将获得最好的数字扫描参数分析仪、可靠性测试仪、功能强大的故障分析工具和自动进货检测站，所有这些都集成在一台仪器中。

这个新系列经过明确设计，旨在为评估您的亚微米几何器件提供前所未有的精度和功能。使用一台灵活的仪器，您可以从材料评估和器件表征一直到最终封装部件检查和现场故障分析，提高您的半导体质量。

Agilent HP 4156A 提供四个内置电源/监控器单元 (SMU)、两个电压源单元 (VSU) 和两个电压监控器单元 (VMU)。 Agilent HP 4156A 将电流分辨率扩展至 1 fA，准确度扩展至 20 fA。 Agilent HP 4156A 在每个 SMU 上使用全开尔文遥感。

您可以随时添加配备 0 V/1.6 A 接地单元的 Agilent HP 41501A SMU 和脉冲发生器扩展器。扩展器接受两个 100 mA/100 V SMU 或一个 1 A/200 V SMU，以及两个特别同步的 40 V/200 mA/1 μs 脉冲发生器。

功能：

高分辨率/准确度和宽范围。 I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1 µV 至 200 V

采用直流或脉冲模式的全自动 I-V 扫描测量，最多可扩展至 6 个 SMU

同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)

时域测量：60 µS 可变间隔，最多 10,001 个点

易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能

自动化：内置 HP Instrument BASIC、触发 I/O 功能