4200A-SCS 参数分析仪
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测试测量仪器,光通信设备
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- 核心模块及参数：
- I-V 源测量单元（SMU）：有 ±210V/100mA 或 ±210V/1A 模块可选，测量分辨率可达 100fA，选配前端放大器可实现 10aA 测量分辨率。支持 10mHz-10Hz 超低频率电容测量，100μF 负载电容，具备四象限操作功能，可进行 2 线或 4 线连接。C-V 多频率电容单元（CVU）：可进行 AC 阻抗测量（C-V，C-f，C-t），频率范围为 1kHz-10MHz。内置 ±30V（60V 差分）DC 偏置源，可扩展到 ±210V（420V 差分）。脉冲式 I-V 超快速脉冲测量单元（PMU）：拥有两个独立或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道，采样率为 200MSa/s，采样间隔 5ns，电压范围 ±40V（80Vp-p），电流范围 ±800mA，具备瞬态波形捕获模式和任意波形发生器 Segment ARB® 模式，分辨率为 10ns。高压脉冲发生器单元（PGU）：包含两个高速脉冲电压源通道，参数与 PMU 类似，同样是 ±40V（80Vp-p）电压范围，±800mA 电流范围，支持 10ns 可编程分辨率的 Segment ARB® 模式。I-V/C-V 多通道开关模块（CVIV）：可在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换，无需重新布线或抬起探针，还能将 C-V 测量移动到任意端子。远程前端放大器 / 开关模块（RPM）：能在 I-V、C-V 和超快速脉冲 I-V 测量之间自动切换，可将 4225-PMU 的电流灵敏度扩展到数十皮安，同时降低电缆电容效应。
- 软件功能：配备 Clarius™基于 GUI 的软件，提供清晰的测量和分析功能，内置数百项应用测试，可执行几乎任何类型的 I-V、C-V 和脉冲式 I-V 特性分析测试。软件支持触滑或点击控制，具备数据显示、分析、代数运算及实时参数提取等功能，还提供多种语言的专家视频，帮助用户快速掌握操作和解决问题。
- 其他特点：拥有 15.6 英寸高清触摸屏幕（1920×1080），便于操作和查看结果。可配置最多 9 个 SMU，支持多种类型的电缆和连接器，能与多种手动和半自动晶片探测器、低温控制器集成，如 MPI、Cascade MicroTech 等品牌产品。
- 半导体器件测试：可用于 MOSFET、BJT 晶体管等器件的特性分析，能测量其栅极电荷、阈值电压、迁移率等参数，也适用于非易失性存储设备如闪存、ReRAM 和 FeRAM 的测试，为半导体研发和生产提供关键参数测量。
- 材料特性分析：可通过测量电阻率系数和霍尔效应等，分析半导体材料、纳米材料等的电学性能，帮助研究人员了解材料特性，优化材料制备工艺。
- 失效分析：能够对二极管、PN 结等器件进行故障诊断，通过精确的 I-V、C-V 测量，找出器件失效的原因，如漏电、短路等问题。
- 传感器测试：适用于各类传感器，如生物传感器、MEMS 器件等，可测量传感器的电学响应，评估其性能和可靠性，例如生物传感器或 bioFET 将生物响应转换为电信号后，可通过 4200 进行传输和输出特性测试。
- 光电器件测试：可用于 LED 和 OLED 等光电器件的电学特性测量，如测量其伏安特性、电容特性等，有助于优化器件设计和提高发光效率。
- 电化学研究：在电化学领域，可用于测量电极的伏安特性等，为电化学过程的研究提供数据支持。
