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- 主营产品
计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 脉冲输出强大：具备行业领先的 10A@10V 脉冲输出能力，脉冲宽度最小可达 10μs，可满足多种高要求测试场景。
- 无需调谐：可直接与高达 3μH 的感性负载配合使用，无需进行调谐，方便快捷，适应性强。
- 高速测量：内置双 1M 样本 / 秒（MS/s）、18 位数字化仪，无需额外仪器，就能同时采集脉冲电流和电压波形，实现高速 I/V 脉冲测量。
- 直流性能优异：直流能力可达 ±40V@±1.0A，40 瓦，可提供较为宽泛的直流电压和电流输出，满足多种直流测试需求。
- 测试脚本内置：采用 TSP 技术，可将完整的测试程序嵌入仪器内部，实现一流的系统级吞吐量，提升测试效率。
- 多通道扩展：支持 TSP-Link 扩展技术，无需机箱即可进行多通道并行测试，最多可扩展 32 个 TSP-Link 节点。
- 接口丰富：配备 USB 2.0、LXI Core、GPIB、RS-232 和数字 I/O 接口，方便与其他设备连接，便于数据传输和远程控制等操作。
- 激光二极管测试：特别是用于飞行时间（ToF）/ 激光雷达（LiDAR）应用中的垂直腔面发射激光器（VCSEL）的生产测试，可对 VCSEL、VCSEL 阵列和激光二极管模块进行电流脉冲源供应和电压 - 电流监测。
- LED 测试：可用于 Micro LED、LED 或高亮度 LED（HBLED）的高速直流和脉冲 IV 特性分析与生产测试，脉冲测试可减少自热效应，降低对测量精度的负面影响，同时避免损坏被测器件。
- 半导体器件表征：可用于半导体器件的晶圆级测试，能在不损坏器件的前提下，通过脉冲 I-V 测试尽量减少电流引起的发热效应，准确测量器件参数，实现对半导体器件的性能表征。
- 浪涌保护测试：凭借其强大的脉冲输出能力，可用于浪涌保护器件的测试，模拟实际应用中的浪涌电流等情况，评估浪涌保护器件的性能和可靠性。
