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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 高精度与宽量程:采用 4 象限设计,具有 6 位半分辨率,电压测量范围为 100nV 至 200V,电流测量范围可达 100fA 至 1.5A 直流、10A 脉冲,能满足多种精度要求较高、量程范围较广的测量需求。双通道设计:双通道型号具有 60W 输出功率,即 30W / 通道,可同时对两个被测对象进行测量或为两个被测对象提供电源,提高测试效率。内置测试软件:内建 “即插即用” 基于 Java 的 I-V 特性分析和测试软件,方便用户进行相关测试和分析,无需额外安装复杂的软件。高速测试:配备吉时利高速 TSP(测试脚本处理)技术,比传统 PC 至仪器的通信技术快,可将完整的测试程序嵌入仪器内部,提升测试速度。显示清晰:具备大屏幕、易于阅读的双行显示,可直观显示测量数据和相关参数,方便用户查看。
- 接口类型:拥有 USB 2.0、LXI-C、GPIB、RS-232 等接口,便于与计算机等外部设备连接,实现远程控制、数据传输和自动化测试等功能。
- 半导体器件测试:可用于二极管、齐纳二极管等两抽头器件,以及小信号双极结型晶体管(BJT)、场效应晶体管(FET)等三抽头器件的 I-V 特性测试,还能对模拟 IC、射频集成电路(RFIC)、专用集成电路(ASIC)、片上系统(SOC)等简单 IC 器件和集成器件进行测试。
- 光电器件测试:适用于发光二极管(LED)、激光二极管、垂直腔面发射激光器(VCSEL)等光电器件的性能测试,可测量其电流 - 电压特性等参数,帮助评估器件性能。
- 晶圆级可靠性测试:可参与负偏压温度不稳定性(NBTI)、时间相关介质击穿(TDDB)、热载流子注入(HCI)、电迁移等晶圆级可靠性测试,为半导体制造过程中的质量控制提供重要数据支持。
- 电池与太阳能电池测试:能用于各类电池的充放电特性测试、容量测试等,也可对太阳能电池的电气性能进行测试,如测量其短路电流、开路电压等关键参数。