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测试测量仪器,光通信设备
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- 通道配置：具备 4 个模拟通道，可选择添加 16 个数字通道和 1 个射频通道，能同步分析模拟、数字和射频信号，方便进行系统级故障排除，且可在任意通道上触发。
- 带宽与采样率：模拟带宽为 350MHz，采样率最高可达 2.5GS/s，可满足多种信号的测量需求。
- 记录长度：所有通道拥有 20M 点的记录长度，能在保持分辨率的同时获取更多时间信息，便于放大精细信号细节。
- 波形捕获率：采用 FastAcq 快速波形捕获技术，波形捕获率超过 340,000 个波形 / 秒，可快速识别毛刺和其他不常见的瞬态信号，并通过颜色分级显示了解感兴趣的事件。
- 集成功能：可配置可选的频谱分析仪、任意波形发生器 / 函数发生器、逻辑分析仪、协议分析仪和 DVM / 频率计数器。频谱分析仪动态范围典型值为 - 65dBc，频率范围可达 9kHz - 6GHz；内置 50MHz 函数发生器；逻辑分析仪时序分辨率低至 60.6ps；协议分析仪支持 I2C、SPI 等多种串行总线；数字电压表可测量直流电压、交流 + 直流有效值等，频率计数器可测量频率。
- 其他特性：具有 Wave Inspector 导航功能，通过直观的前面板控件可轻松导航长记录，并能自动搜索标记事件。支持离线波形分析，可使用 TekScope Anywhere 查看、测量和分析实验室中捕获的数据。
- 嵌入式设计：可对混合信号嵌入式系统进行系统级调试，能快速发现并解决问题，尤其适用于包含常见串行总线和无线技术的系统，通过对相关信号的测量与分析，确保嵌入式设备的正常运行。
- 电源设计：配合多种功率探头，可进行自动化的电能质量、开关损耗、谐波、纹波、调制和安全工作区测量等，对电源电路中的电压、电流和功率进行可靠且可重复的测量，帮助工程师优化电源设计，提高电源效率和稳定性。
- EMI 故障排除：能够确定哪些时域信号可能导致不需要的电磁干扰（EMI），快速追踪嵌入式系统中的 EMI 源，还可实时查看时域信号对系统 EMI 发射的影响，以便采取相应的屏蔽、滤波等措施，满足电磁兼容标准。
- 无线故障排除：能以时间同步的方式查看整个系统的模拟、数字和射频信号，了解真实的系统行为。可在单次捕获中捕获超宽带，用于查看多种无线技术之间的交互，或查看现代标准（如 802.11/ad）的整个宽带频率范围，有助于无线通信模块的调试与故障排查。
- 制造测试和故障排除：其 6 合 1 设计将多个仪器集成到单个小包装中，可最大限度地减少机架或工作台空间，降低了在制造测试或故障排除站使用多种不同仪器类型的相关成本，可用于电子产品生产过程中的质量检测与故障定位。
