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测试测量仪器,光通信设备
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- 测量精度高：可对 50 Mbd 至超过 80 Gbd 的高速数字设计进行精确测量，同时支持多达 16 个通道。其测试带宽大于 110 GHz，抖动低至 50 fs，噪声低至 275 μV，能确保高精度测量。
- 采样速率快：采样速率高达 250 kSa/s，可实现高测试吞吐量，有助于提高测试效率，降低测试成本。
- 模块兼容性强：DCA-X 平台由主机和多种模块组成，N1000A 支持使用当前以及旧款已停产的光、电和 TDR 模块，用户可根据测量需求选择不同的插件模块，进行精确的光、电和 TDR/TDT/S 参数分析，保护用户的投资，避免设备过早淘汰。
- 光收发器设计与生产测试：在光通信领域，可用于光收发模块的研发和生产环节，对光信号的质量进行评估，如测量光信号的眼图、脉宽、频率等，确保光收发器符合相关标准和性能要求。
- 电气 ASIC/FPGA/IC 设计与特性分析：对于集成电路设计工程师来说，可用于测试 ASIC、FPGA 和 IC 等芯片的高速电气信号，帮助工程师分析芯片内部信号传输特性，检测信号完整性问题，优化芯片设计。
- 串行总线特性分析：可用于分析各种串行总线信号，如 USB、PCI - e、HDMI 等，对总线信号的传输速率、信号质量、协议兼容性等进行测试，确保串行总线设备之间的正常通信。
- 通道、电缆和 PCB 测试与故障排除：通过 TDR/TDT 和 S 参数测量，可对信号通道、电缆和印刷电路板（PCB）进行测试，检测线路中的阻抗匹配情况、信号反射、传输损耗等问题，帮助工程师定位和解决信号传输中的故障。
