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半导体设备,EMC设备,电子测量仪器
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描述:
inTEST BT28 桌面型高低温冲击热流仪, 适用于对低温要求不高的非高功率芯片或者器件测试, 例如光模块, 光通讯研发, 存储芯片, MCU 芯片研发等, inTEST BT28 热流仪台式设计, 占地面积小, 满足场地有限的实验环境。
高低温冲击范围: -28°C 至 +225°C : 在台式测试系统中可用的最高风量下,实现精确可靠的温度控制,覆盖最广的温度范围. inTEST BT28 可代替 ATS-505 和 ATS-605.
特点:
小巧机型中的无与伦比的性能
• 极端温度控制:在台式测试系统中可用的最高风量下,实现精确可靠的温度控制,覆盖最广的温度范围。
• 节省空间的卓越设计:设计用于快速准确地测试设备。最大化您的工作空间,同时提供行业领先的制冷制热能力。
• SwiftTherm™ 技术:通过闪电般的温度转换加速您的产品开发和制造时间表。
• ECO-Stream 设计:设计得更小、更安静、更节能,提升您的用户体验,同时最小化环境影响。
• 可拆卸的触摸屏操作面板:享受触摸屏的便利性,您可以在距离机台长度2.7米内任何需要的地方放置它
光模块测试、半导体器件测试、电子设备测试、传感器测试