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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 输出能力：具备 30W 输出功率，可提供最大 1.5A 直流、10A 脉冲的电流输出，电压最大输出为 200V，电流测量最小分辨率达 0.1fA，电压最小分辨率为 100nV。
- 技术特性：内建基于 Java 的 “即插即用” I-V 特性分析和测试软件。采用 TSP®（测试脚本处理）技术，可在仪器内嵌入完整测试程序。支持 TSP-Link® 扩展技术，能实现多通道并行测试。还提供对吉时利 2400 源表 SMU 软件指令的仿真，方便迁移旧有测试代码。
- 通信接口：配备 USB 2.0 连接性，方便与计算机等设备连接，实现数据传输和远程控制等功能。
- 显示方式：拥有大屏幕、双行显示，可直观显示相关测量和设置参数，便于操作和读取数据。
- 半导体器件测试：可用于二极管、晶体管（如 BJT、FET）等分立半导体器件的参数测试，测量其伏安特性、击穿电压、导通电阻等参数。对于集成电路，如模拟 IC、射频集成电路（RFIC）、专用集成电路（ASIC）等，能测试其静态电流（IDDQ）等参数，检查芯片是否存在短路、氧化栅极等缺陷，确保芯片质量。
- 光电器件测试：适用于发光二极管（LED）、激光二极管、垂直腔面发射激光器（VCSEL）等光电器件的性能测试，可测量其正向电压、反向漏电流、发光阈值电流等参数，帮助优化光电器件的生产工艺和性能。还可用于太阳能电池的特性测试，测量其短路电流、开路电压、填充因子等关键参数，评估太阳能电池的光电转换效率和质量。
- 传感器测试：对于各种传感器，如温度传感器、压力传感器等，可通过施加不同的激励信号，测量传感器的输出信号，校准传感器的灵敏度、线性度等参数，确保传感器测量的准确性。
- 电阻电容等无源元件测试：能精确测量电阻的阻值，尤其是低阻值电阻的测量，还可测试电容的漏电流等参数，帮助确定无源元件的性能是否符合规格要求，在电子元器件生产和质量控制环节发挥作用。
- 纳米材料电气特性测试：纳米材料的电气特性较为特殊，且电流通常较小，吉时利 2635B 凭借 0.1fA 的高精度测量分辨率，可用于碳纳米管、石墨烯等纳米材料的电流 - 电压特性测量，帮助科研人员研究纳米材料的导电性能等，为纳米材料的研发和应用提供数据支持。
- 电池测试：可对锂电池、镍氢电池等进行充放电测试，测量电池的充放电电压、电流、容量等参数，评估电池的性能和寿命，适用于电池生产企业和科研机构对电池产品的研发和质量检测。
