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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 通道配置：采用双通道设计，可同时进行两路信号的源输出与测量，方便对复杂电路或多个器件进行同步测试。
- 输出特性：每个通道最大输出功率为 40W，输出电压可达 200V，直流最大输出电流为 3A，脉冲电流最大可达 10A，能满足多种类型负载的供电需求。
- 测量精度：具备 5μV/1pA 的最小编程分辨率和 1μV/1pA 的最小测量分辨率，可实现高精度的电压和电流测量，适用于对精度要求极高的测试场景。
- 功能集成：在一个紧凑单元中集成了精密电压源、高精度电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载以及触发控制器等多种功能，可替代多种单一仪器，简化测试系统搭建。
- 编程与控制：内置测试脚本处理器（TSP），可在仪器中执行完整的测试程序，实现自动化测试。支持 TSP-Link 总线，每 GPIB 或 IP 地址最多可扩展 32 单元 / 64 通道。还具备 USB 端口用于保存数据和测试脚本，具有 LXI Class C 兼容性，可实现高速数据传输和远程测试。
- 软件支持：配备 TSP Express 软件工具，无需编程或安装额外软件，即可快速进行常用的 I-V 测试，提供直观的用户界面，可设置和运行多种测试，数据可图形化或表格化显示并导出为 CSV 文件。
- 其他特性：具有接触检测功能，可确保高速及准确的测量。具备精密定时和信道同步功能，同步精度小于 500ns，可实现 20,000 读数 / 秒的测量速度，能有效捕捉器件瞬态性能。
- 半导体器件测试：可用于二极管、齐纳二极管、晶体管（BJT、FET 等）、集成电路（模拟 IC、射频 IC、SOC 等）的 I-V 特性测试，测量器件的伏安特性、导通电阻、阈值电压等参数，帮助工程师了解器件性能，进行器件筛选和质量控制。
- 光电器件测试：适用于发光二极管（LED）、激光二极管、垂直共振腔面射型激光器（VCSEL）等光电器件的测试，可测量其正向电压、反向漏电流等参数，以及电流 - 发光强度特性等，是光电器件研发和生产过程中常用的测试仪器。
- 无源器件测试：能对电阻、电容器、热敏电阻、金属氧化物变阻器（MOV）等无源器件进行测试，测量其阻值、电容值、耐压值等参数，确保无源器件符合规格要求。
- 集成电路测试：对于简单集成电路，如光学驱动器、开关集成电路等，可进行功能测试和性能评估，通过施加不同的电压和电流，检测集成电路的输出信号是否正常，判断其是否存在故障。
- 并行测试：可用于双引脚、三引脚元器件阵列的并行测试，利用其双通道特性和高速测量能力，提高测试效率，适合大规模生产测试场景。
- 科研与教学：在高校和科研机构的电子相关专业教学和科研项目中，是重要的实验仪器，可用于讲解电路原理、电子测量等课程，也可支持科研人员进行新型电子器件和电路的研究与开发，为相关研究提供精确的电源供应和信号测量。
