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产品描述
inTEST ATS-710 超高速高低温循环测试机 是一款专业级 -80°C 至 +225°C 温度冲击测试设备,专为 半导体芯片、光通信模块、PCB 电路板 等电子元器件的可靠性验证设计。该设备采用 ThermoStream™ 气流控制技术,无需依赖液氮(LN₂)或液态二氧化碳(LCO₂)制冷,即可实现 -55°C 至 +125°C 仅需 10 秒 的极速温变,大幅提升测试效率。
主要特点
- 温度范围:-80°C 至 +225°C
- 变温速率:-55°C 至 +125°C 约 10 秒,+125°C 至 -55°C 约 10 秒
- 温度精度:±1℃(通过 NIST 校准)
- 制冷方式:无氟利昂制冷剂,环保安全
- 防结霜设计:干燥气流循环吹扫测试表面,防止水汽凝结
- 自动待机与节能:空闲模式下自动降低能耗
- 控制方式:触摸屏控制面板,支持 IEEE 488、RS232、Ethernet 等接口
- 测试配置:可选配热流罩、密封垫、软管、测试腔等
电子元器件高低温冲击测试、半导体器件测试、光通信模块测试、存储设备测试
