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产品概述：
采用 PulseMeter™ 技术的新型 2601B-PULSE 系统 SourceMeter 10 μs 脉冲发生器/SMU 仪器是业界领先的大电流/高速脉冲发生器，具有传统 SMU 的全部功能。这款新型脉冲发生器在 10 V 电压下提供领先的 10 A 电流脉冲输出，最小脉冲宽度为 10 μs，非常适合测试用于 LIDAR 和面部识别的垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、用于照明和显示器的 LED、半导体器件表征、浪涌保护测试等。脉冲发生器内置双 1 兆采样/秒 （MS/s） 的 18 位数字化仪，无需使用单独的仪器即可同时采集脉冲电流和电压波形。2601B-PULSE 是一款功能强大的解决方案，可显著提高从台式表征到高度自动化脉冲 I-V 生产测试等应用的分析效率。对于自动化系统应用，2601B-PULSE 的测试脚本处理器 （TSP®） 可在仪器内部运行完整的测试程序，以实现行业最佳的吞吐量。在更大的多通道应用中，Keithley TSP-Link® 技术与 TSP 技术配合使用，可实现高速脉冲发生器/SMU 每引脚并行测试。由于 2601B-PULSE 提供不需要主机的完全隔离，因此可以随着测试应用的发展而轻松重新配置和重新部署。
特点：
- 通道：1
- 最大电流源/测量范围：10 A
- 最大电压源/测量范围：40 V
- 测量分辨率（电流/电压）：100 fA / 100 nV
- 权力
- 行业领先的 10 A @ 10 V，10 微秒脉冲输出
- 无需调音;适用于高达 3 μH 的感性负载
- 双 1 兆采样/秒数字化仪，用于高速 I/V 脉冲测量（仅限脉冲发生器功能）
- 直流能力高达 ±40 V @ ±1.0 A，40 W
- TSP 技术将完整的测试程序嵌入到仪器中，以实现一流的系统级吞吐量
- TSP-Link 扩展技术，无需主机即可进行多通道并行测试
- USB 2.0、LXI Core、GPIB、RS-232 和数字 I/O 接口
晶圆半导体测试、光电器件测试、激光二极管测试、集成电路测试