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产品概述
Burleigh WA-1600 是一款基于扫描迈克尔逊干涉仪的高精度波长测量设备,通过将输入光信号的干涉条纹与内置 HeNe 激光参考源的条纹进行比对,实时计算出绝对波长。其核心设计目标是为科研和工业应用提供高精度、高稳定性的波长测量解决方案,尤其适用于对波长精度要求苛刻的场景。
产品特点
1. 高精度与稳定性
内置校准源:采用稳定的单频 HeNe 激光作为参考,校准精度优于 ±50 MHz(相当于 ±0.1 ppm),无需外部校准源即可长期保持高精度。
宽动态范围:支持 - 30 dBm(1200-1700 nm)至 - 20 dBm(700-1200 nm)的输入光功率,适用于微弱信号和中等功率光源。
2. 多场景兼容性
光纤与自由空间输入:标配 FC/APC 光纤接口,支持单模和多模光纤;可选配自由空间适配器,适配发散光源(如激光二极管)。
功率测量功能:同步提供光功率测量,精度 ±0.5 dB(在 1310 nm 和 1550 nm 处 ±30 nm 范围内),分辨率 0.01 dB,满足复合型测试需求。
3. 灵活的接口与控制
通信接口:配备 RS-232 和 GPIB(IEEE-488)接口,支持远程控制和自动化测试脚本开发(如 LabVIEW)。
数据存储与导出:内置缓冲区可存储多组测量数据,支持通过接口导出至 PC 进行离线分析。
4. 紧凑与可靠性设计
便携式结构:尺寸约 389×203×292 mm,重量 11.3 kg,适合实验室和现场测试。
工业级稳定性:工作温度范围 15-35°C,抗振动和电磁干扰,确保复杂环境下的可靠运行。
DWDM 系统测试、光模块校准、分子光谱研究、量子光学实验、卫星通信、激光雷达(LiDAR)测试
