- 产品详情
- 在线询价
- 应用领域
产品描述
SWS20010 是捷迪迅（JDS Uniphase，后并入 VIAVI Solutions）推出的源光学模块（Source Optics Module），属于波长扫描系统（SWS）的核心组成部分，用于在光通信领域对光学元件和模块的光学性能进行高精度测试。它具备激光源功能，可实现波长的精准扫描，配合系统能直接测量插入损耗（IL）、偏振相关损耗（PDL）、回波损耗（RL）等关键光学参数。
核心特点
波长性能优异：在 1520 至 1630 纳米范围上，绝对波长精度可达 ±0.002 纳米，波长分辨率可在 0.4 至 3 pm 之间灵活选择，扫描速率最高可达 100 纳米 / 秒，是前几代产品的两倍，能快速且精准地捕捉光学器件的波长特性。
动态范围大：动态范围大于 70 dB，可覆盖从低损耗到高损耗光学器件的测试需求，确保在不同损耗区间都能实现高精度测量。
- 光通信器件研发与制造：用于 ROADM（可重构光分插复用器）、波长选择开关、高密度波分多路复用器（DWDM）、可调谐滤波器、耦合器、分波器、衰减器等光器件的性能鉴定。
- 光学模块测试：适用于无颜色、无方向、无竞争（CDC）的光学模块，以及光学电路板、微机电系统（MEM）和波导器件等的测试。
- 光网络质量验证：在长距、城域光网络的组件生产环节，验证器件的插入损耗、偏振相关损耗等关键指标，确保光网络的传输性能。