产品概述

E4916A是安捷伦 (现为是德科技) 开发的高精度晶体阻抗 / LCR 测量仪，专为射频和高频元器件测试设计，基于IEC 标准推荐的传输 π 网络法测量原理，提供1 MHz 至 180 MHz的宽频率覆盖范围，可同时测量晶体阻抗 (CI) 和 LCR 参数，特别适合晶体谐振器、射频元件和高频电路测试。

产品特点

1. 核心测量性能

频率范围：1 MHz 至 180 MHz，分辨率达 1 mHz，精度 ±2 ppm (可选 0.2 ppm 高稳频参考)

阻抗测量范围：5 Ω 至 125 kΩ，适用于多种晶体和射频元件

极低驱动能力：可施加0.1 nW的超低驱动电平，避免测试时晶体特性偏移

测量速度：谐振频率 (Fr)/ 晶体阻抗 (CI) 测量时间 125 ms 至 10 s (可调)

2. 全面测量参数

可测量多种晶体和阻抗参数：

谐振频率 (Fr)、反谐振频率 (FA)、负载谐振频率 (FL)

晶体阻抗 (CI)、品质因数 (Q)

等效电路参数：C1 (动态电容)、R1 (动态电阻)、L1 (动态电感)、C0 (静态电容)

驱动电平相关特性 (DLD)、等效模式 (EM)