HP/惠普 4194A 阻抗分析仪

产品概述

HP 4194A 是一款10 kHz–100 MHz的阻抗与增益 - 相位分析仪，集成阻抗测量与网络传输特性分析，支持宽阻抗范围、材料参数直读与自动序列编程（ASP），适配射频 / 微波元件、材料特性、高速电路与振荡器研发、产线与质量控制。

功能特点

1. 多模式测量与材料分析

阻抗与网络分析：可测 Z/Y/R/X/Q/D、L/C、θ/φ，支持增益 / 相位与 S 参数推导，适配元件与电路评估。

材料参数直读：介电常数（εr）、导磁率（μr）与损耗因子（tanδ），适配介质与磁性材料研发。

高级分析工具：科尔图、弛豫时间、温度扫描，支持材料特性与器件老化研究。

2. 高精度与误差补偿

校准与补偿：开路 / 短路 / 负载（OSL）与夹具补偿，降低寄生效应影响，提升测量精度。

自动序列编程（ASP）：存储前面板操作，自定义测量、计算与图形分析，适配产线高通量测试。

低噪声与高稳定性：相位噪声与杂散抑制优异，确保高频与小信号测量可靠。

3. 灵活扩展与自动化

夹具适配：支持元件（0.5 mm–20 mm）与材料（−55℃–200℃）夹具，适配不同被测件。

负阻抗测量：配合 41941A/B 探头，评估晶体振荡器与谐振器负阻特性，加速研发。

远程控制：GPIB 与 LAN（可选）支持 SCPI 命令，适配 ATE 系统与自定义测试脚本。