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产品概述
核心指标：典型带宽 6 GHz，保证上升时间 < 75 ps；输入阻抗 20 kΩ（DC）||<0.5 pF，负载小、保真度高；5×（1.5 Vp‑p）/25×（6 Vp‑p）切换衰减，±5 V DC 偏置，无损输入电压 30 V（DC + 峰值 AC）。
接口与适配：TekConnect 接口，直连泰克支持该接口的示波器（如 TDS6604 等），自动识别、自动量程与单位换算，便于远程控制与自动化测试；探头头小巧，适配 SMD 引脚、BGA 周边与密集布板的难触及点位。
附件与校准：标配多种探头尖、接地引线、转接件与收纳盒；建议使用 TekConnect 校准夹具做补偿与校准，确保高频精度。
产品特点
高保真与低负载：6 GHz 带宽 +<75 ps 上升时间，能捕获高速串行链路的眼图、抖动与过冲；<0.5 pF 输入电容对阻抗控制链路扰动小，适合 SI/PI 测试。
灵活与易用：切换衰减与动态范围，兼顾小信号分辨率与大信号余量；小巧探头头 + 丰富附件，方便在细间距 SMD 与高密度背板上定位；TekConnect 即插即用，降低操作门槛。
可靠与兼容：SiGe 工艺提升高频性能与稳定性；30 V 无损电压限值适合低压高速场景；与泰克高端示波器协同，稳定传输高频信号，支持自动化测试流程。
高速数字研发与调试：PCIe、DDR、SAS/SATA、以太网（10G 及以下）、光纤通道等串行链路的眼图、抖动、时序与串扰分析；优化过孔、连接器、走线拓扑，提升信号完整性。
射频 / 微波与组件测试：低功率放大器、混频器、滤波器、开关等单端器件的增益 / 相位、带宽、失真与脉冲响应测量；裸板与无连接器组件的端口特性与故障定位。
量产与失效分析：高速接口的首件检验、批次抽检与量产线测试；PCB / 模块的失效分析（如焊点虚焊、过孔阻抗突变、ESD 损伤），快速定位反射与噪声源。