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产品概述
该设备属于源测量单元，核心用于输出低噪声的高精度直流电压与电流信号，输出范围涵盖 ±30V 电压和 ±200mA 电流，配备 5.5 位分辨率，对应 ±120,000 计数的输出精度，能满足多种精密测试对信号质量的严苛要求。它采用双数模转换器（DAC）设计，搭配高精度分压器，在 10mV、100mV 等小量程下也能实现低噪声输出。此外，设备支持编程输出最多 10,000 个采样点的波形，内置 USB 大容量存储设备可存储测量值与发生源值，还能通过同步操作实现通道扩展，其高分辨率点阵 VFD 显示屏可直观呈现大量设备运行与测试信息。
产品特点
输出精度高且稳定性强：长期使用仍能保持出色性能，例如在 10V 量程下，一年内的精度可达设置值的 ±0.016%+240μV，单日稳定性更是能达到设置值的 ±0.001%+20μV。同时它在全量程内具备优异线性度，且噪声极低，10V 量程下 DC - 10kHz 频段的噪声仅 100μVp - p，100mA 量程下该频段噪声为 3μAp - p，能避免噪声干扰测试结果。
输出灵活且切换平滑：具备无缝双极输出功能，无需机械接触即可转换信号极性，极性转换时不会产生异常电压或电流突波，可实现从最大负输出到最大正输出的连续电压变化。而且它既能作为电流源输出电流，也能作为负载吸入电流，四象限操作模式使其可灵活适配不同极性、不同方向的信号输出需求。
功能可拓展且操作便捷：可选装电压和电流监测功能，启用后在输出电压时可监测电流，输出电流时可监测电压，监测显示分辨率达 4.5 位。同时支持与 USB 大容量存储设备联动存储数据，还能适配 DL750 等多款横河测试设备，便于融入各类测试系统，提升测试流程的连贯性。
半导体与光电器件测试：适合半导体激光芯片等器件的检测，可输出窄脉冲扫描形式的驱动电流，避免器件过热，同时凭借高精度特性精准测量光电传感器产生的微弱电压信号，保障对器件发光波长、光谱特性等测试数据的可靠性，也能为低维物理电子输运研究提供可靠的栅极电压。
电子元器件研发与质检：在电容、电阻、传感器等电子元器件的研发和生产质检中，可为元器件提供稳定的电压或电流激励，同时监测其对应的电流或电压响应，以此验证元器件的性能参数是否符合设计标准，排查生产过程中的不合格产品。
科研实验与精密测量：适配高校、科研机构的低噪声精密实验场景，比如在超导材料、新型电子材料的研究中，为实验提供精准可控的电压和电流信号，助力研究人员获取材料在不同电信号下的输运特性等关键数据，其高稳定性也能满足实验长时间连续测试的需求。