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产品概述
ZNBT40 基于 R&S®ZNBT 系列的通用平台,融合了宽频带、高精度和模块化设计。其基础配置支持最多 24 个集成测试端口,可同时并行测试多个被测设备(DUT)或单一多端口 DUT,尤其适用于多频段通信模块、相控阵天线和高速数据链路的测试。设备采用全数字中频架构和实时信号处理技术,支持510 MHz 实时分析带宽,可同步捕获多端口信号的幅度、相位和群时延特性。其设计兼顾研发(R&D)和量产场景,尤其在移动无线通信、航空航天与国防领域表现突出。
产品特点
1. 卓越的射频性能
宽动态范围:在 1 GHz 处动态范围达135 dB(IF 带宽 10 Hz 时),显示平均噪声电平(DANL)为 **-174 dBm**,可检测微弱信号(如雷达回波或卫星通信中的低功率信号)。
低相位噪声:10 kHz 偏移时相位噪声低至 **-110 dBc/Hz**,确保对锁相环(PLL)和振荡器的高精度表征。
高功率处理能力:输出功率范围为 **-85 dBm 至 + 15 dBm**(可选扩展至 + 20 dBm),支持大功率放大器和射频前端模块的测试。
2. 灵活的多端口测试能力
全集成端口架构:每个端口独立配备反射计,避免传统开关矩阵系统的信号损耗,支持24 端口同时并行测量,扫描 201 点仅需2.5 ms。
相位相干性:所有端口相位一致性误差小于0.5°,适用于相控阵天线和 MIMO 系统的波束赋形测试。
模块化选件生态:
扩展频率覆盖:通过外部谐波混频器可延伸至110 GHz,满足太赫兹通信和毫米波雷达测试需求。
扩展功率范围:每个端口可独立配置高功率选件(如 B21-B26),支持 **+20 dBm** 输出功率,适用于大功率组件测试
无线通信与移动网络、航空航天与国防、半导体与元器件测试、
