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产品概述
该设备核心用于半导体器件的直流参数表征，能适配晶体管、二极管、晶闸管、MOSFET、光电器件、太阳能电池等多种半导体器件的测试需求。它具备强劲的信号源能力，可提供最高 2000V 电压和 10A 电流输出，功率上限达 220W；测量精度表现出色，电流测量分辨率达 1nA，电压测量分辨率低至 2mV。同时配备 GPIB 接口，搭配自带的 MS - DOS 兼容软盘存储，既能远程操控，又能便捷保存和调取测试参数设置，适配多样测试场景。此外还标配专用测试夹具，可兼容多种带 Kelvin 传感和不带 Kelvin 传感的适配器，适配不同封装类型的半导体器件测试。
产品特点
测试功能丰富精准：支持波形对比、包络显示和波形平均等多种显示模式，配合点光标功能，可精准完成电压、电流、直流放大倍数等参数的测量，误差仅为光标读数的 1.5% 加上 0.05 格设定值。其阶梯信号发生器还能提供 50nA - 200mA 的电流阶梯和 50mV - 2V 的电压阶梯，阶梯数可在 0 - 10 之间调节，能满足不同器件的阶梯测试需求。
操控与拓展灵活：可通过功能完备的前面板手动操作，也能借助 GPIB 接口实现计算机远程控制，轻松融入自动化测试系统。而且支持与计量软件、LabVIEW 等软件配合实现测试流程自动化，还能连接 HPGL 绘图仪输出彩色测试报告，相比传统拍立得打印更便捷且成本更低。
测试安全有保障：配备的标准测试夹具能为被测器件提供安全防护外壳，避免测试过程中因器件故障或高压漏电对操作人员造成伤害。同时适配多种专用适配器，既能通过 Kelvin 传感适配器提升小信号测量的准确性，也能通过表面贴装适配器适配贴片式半导体器件的测试，兼顾安全性与适配性。
研发与参数提取：在科研实验室中，可用于新型半导体器件的特性表征，比如提取晶体管的 SPICE 仿真参数，助力工程师验证新器件设计方案的可行性，同时也能开展失效分析，通过对比故障器件与正常器件的特性曲线，定位器件失效原因。
生产与质检环节：生产线中可用于半导体器件的来料检验和出厂质量测试，通过批量测试筛选出参数不合格的产品，还能对器件进行配对筛选，保障批量生产的器件性能一致性，同时记录测试数据生成质量报告，实现生产过程的质量监控。
教学与实训场景：因能直观绘制出晶体管 Ic - Vce、场效应管 Id - Vds 等特性曲线，成为微电子学相关专业的优质教学工具。教师可借助它向学生演示半导体器件的工作原理，学生也能通过实操深入理解器件参数变化对性能的影响，提升实操能力。