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产品概述
该设备的基础频率范围为 10MHz - 26.5GHz，搭配特定选件可扩展至 110GHz，甚至借助频率扩展模块能达到 1.5THz。设备具备信号源与接收机衰减器、偏置 T 型接头、脉冲发生器和调制器等配置，还支持噪声系数测量。它既能实现 S 参数的低不确定度、高稳定性测量，也能快速精准完成脉冲 S 参数测量，同时适配多种测量应用软件，可对放大器、混频器等器件展开全面测试分析。
核心特点
测量精度高：动态范围可达 127dB，迹线噪声低至 0.002dB RMS，能精准捕捉微弱信号，保障高 Q 值滤波器等精密器件测量稳定；幅度不确定度仅 0.05dB，相位不确定度为 0.2°，极大降低了测试误差，满足高要求的微波测量场景。
测量效率高：扫描速度表现出色，201 个点单次扫描仅需 6.3ms，且支持电子校准、TRL 校准等多种方式，能将校准时间缩短 50%；同时支持 GPIB、LAN、USB 等多种远程控制接口，可对接产线测试系统实现自动化测试，提升测试吞吐量。
配置灵活且适配性强：支持通过开关矩阵将端口扩展至最多 24 个，适配不同端口数量的器件测试需求；拥有丰富的选件配置，比如可添加脉冲调制器、低噪声接收机等，还能兼容 PNA - X 系列的诸多测量应用，像增益压缩、互调失真等测试无需额外外接设备。
操作便捷友好：配备多点触控显示屏，界面直观易懂，工程师可快速完成复杂参数设置，能加速对元器件特性的分析，减少操作学习成本。
通信领域：适配 5G 等通信技术相关测试，可对 MIMO 天线、毫米波射频前端模块开展 S 参数及非线性特性测试，也能用于高速互连的插入损耗、回波损耗等分析，为通信设备研发和生产提供数据支撑。
航空航天与国防领域：可用于雷达系统、卫星通信组件的测试，包括在高低温等恶劣环境下验证这些组件的稳定性，保障相关设备在复杂工况下的微波性能达标，满足国防和航空航天领域的严苛要求。
半导体与电子元器件领域：能对半导体封装件、放大器、混频器、变频器等器件进行全面性能表征，像测试放大器的增益压缩特性、混频器的矢量和标量特性等，助力工程师优化元器件设计，同时把控产品生产质量。