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产品概述
该设备配备两个电测量通道，是适配特定主机的插件式模块，带宽可在 26.5GHz 和 50GHz 之间灵活切换。在测试小信号时选用 26.5GHz 模式可保障出色的噪声性能，测试超高速信号时切换至 50GHz 模式能保障测试的高保真度与准确性。其可对高达 11.3Gb/s 的数据通信相关设备和技术开展波形表征等测试，为高速通信领域的设备研发和性能验证提供可靠支撑。
产品特点
参数表现出色：不同带宽模式下性能适配性强，26.5GHz 模式下的均方根噪声为 0.46mv，转换时间 13.2ps；50GHz 模式下均方根噪声为 0.75mv，转换时间仅 7ps。且输入动态范围达 ±400mv，最大输入信号为 ±2VDC，输出阻抗固定为 50 欧姆，能满足不同强度、不同速率信号的测试需求。
触发端口灵活：配置了 2.5/12.5GHz 的触发端口，端口模式可由所搭配的主机进行设置，适配不同测试场景下的触发需求，提升与不同主机系统配合测试时的兼容性和灵活性。
测量精度高：在 26.5GHz 和 50GHz 两种带宽模式下，都具备较高的直流测量精度，误差控制在较小范围，例如 26.5GHz 模式下，直流精度为满量程的 ±0.4%±2mv± 测量值与通道偏移差值的 1.2%，可精准捕捉信号的细微变化。
光电子元器件测试：可用于光模块、高速连接器等光电子元器件的电信号测试，通过精准测量元器件输出电信号的波形、速率等参数，判断元器件的性能是否达标，助力厂商优化元器件设计与生产工艺。
通信设备检测：适配 SONET/SDH 等通信技术相关设备的测试，能对这类通信设备的发射端信号开展一致性测试，验证设备是否符合通信行业的信号传输标准，保障设备在通信网络中的稳定运行。
高速数据通信研发：在企业级高速数据传输设备研发过程中，可对设备内部的高速电信号传输链路进行测试，排查信号传输过程中的失真、干扰等问题，为研发人员优化设备传输性能提供数据依据。