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产品概述
该探头属于 5 倍衰减的有源 FET 探头，核心适配泰克 TDS694C 和 TDS794D 等高性能示波器，同时借助泰克 1103 探头电源，也可用于其他传统 BNC 接口的仪器。其具备 DC 至 4.0GHz 的带宽，上升时间不超过 120ps，输入电阻典型值为 20kΩ，输入电容小于 1pF，动态范围为 ±2V，偏移范围达 ±5V。此外，它配有全套多样化的探头端头附件，能适配不同间距的器件，尤其是可直接连接到 0.254mm 间隔的 SMD（表面贴装器件），方便应对多样的测试连接需求。
产品特点Tektronix
高频测量性能出色：4GHz 的宽频带搭配小于 120ps 的上升时间，能精准捕捉高速数字信号的细节，满足千兆比特以太网、Rambus 数据线等高频场景的信号测量需求。且它兼具低输入电容（＜1pF）和高输入电阻（20kΩ），在测量时能最大限度减少对被测电路的负载影响，降低地线环路效应，保障高频信号测量的真实性和准确性。
适配性强且连接灵活：采用 Tekprobe® II BNC 接口，兼容性广泛，既适配特定系列的高性能示波器，也能通过专用电源拓展到传统 BNC 接口仪器。同时配备了 SMT 贴片夹具、不同规格的接地引线、弹簧适配器等全套探头附件，可适配数字设计中多种不同类型的器件，甚至能轻松应对密集拥挤的电路探测场景。
操作便捷且适配精细测量：探头头部设计小巧，质量较轻，方便操作人员手持对密集的电路板进行探测，能轻松接触到空间狭小的测试点。并且其 DC 偏移功能可在测量含有 DC 电压的 AC 信号时，充分利用探头的全部动态范围，提升这类复杂信号测量的精准度。
高速数字系统设计领域：是高速数字系统研发过程中的重要测试工具，可用于 3.0V 逻辑电路、PCI Express、DDR 等相关高速数字电路的信号测量，助力工程师调试电路，保障系统信号传输的稳定性。
元器件设计与鉴定领域：适用于各类高频电子元器件的设计验证和性能鉴定。比如在新型半导体器件、高频传输部件等研发中，可通过它测量元器件的信号传输特性，判断其是否符合设计标准，为元器件性能优化提供数据支撑。
电子制造与测试领域：在电子制造业的生产线检测环节，可对搭载高频电路的产品做质量检测，像含有千兆比以太网接口的通信设备、采用 Rambus 总线的电子成品等，通过检测高频信号参数，排查生产过程中出现的信号异常问题，保障出厂产品质量。
高频通信相关测试领域：可用于千兆比特以太网等通信相关的信号测试，能精准测量通信线路中的高频信号完整性、抖动和时序等关键参数，助力通信设备的性能调试和通信质量优化。