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产品概述
核心参数：探头自身典型带宽达 1.5GHz，衰减比为 10×；输入电阻 1MΩ、输入电容≤1pF，能最大程度降低对被测电路的负载影响；可承受 ±15V（直流 + 峰值交流）电压，传输延迟稳定在 5.3ns±200ps，配备 1.3 米长电缆，兼顾测试范围与信号稳定性。此外补偿电容范围为 8 - 12pF，直流补偿范围达 10V，适配不同测试场景的参数微调需求。
适配定位：专为泰克多款示波器设计，兼容 TDS3000、TDS3000B、TDS500 等多个系列示波器，部分 TDS6000 或 TDS7000 系列示波器需搭配 TCA - BNC 适配器使用。其搭载 TekProbe BNC 接口，可被示波器自动识别并直接供电，无需额外电源和线缆，是高速数字领域信号测试的常用配件。
产品特点download.tek.com
适配 SMD 且兼容性广：探头设计精巧，可直接对接间距小至 0.5mm 的表面贴装器件（SMD），无需复杂转接。同时能精准测量 CMOS、BiCMOS、ECL、GaAs 和 TTL 多种类型的逻辑电路，适配不同材质和架构的数字电路测试需求。
使用便捷且安全性高：采用组合式结构，使用方式灵活，能应对多样测试场景。依托 TekProbe BNC 接口，不仅省去额外供电设备和线缆的麻烦，还可实现与示波器的自动匹配。且符合 UL3111 - 1、CSA1010.1 等多项安全标准，降低测试过程中的安全隐患。
信号采集精准性强：≤1pF 的超低输入电容搭配 1MΩ 输入电阻，大幅减少对被测高速信号的干扰，避免信号失真，保障测量数据的真实性。同时 < 250ps 的上升时间，能精准捕捉高速信号的突变过程，满足高频场景下对信号细节的捕捉需求。
高速数字系统研发：在高速数字电路设计环节，可用于测试电路中的高频信号传输情况，比如芯片间的数据交互信号等，帮助工程师排查信号延迟、失真等问题，优化电路设计方案。
元器件设计与检测：适用于各类高频元器件的设计表征与性能测试，像对高频晶体管、高速传输芯片等元器件，通过采集其工作时的信号，判断元器件性能是否达标，为元器件迭代优化提供数据支撑。
工业生产与教学科研：工业场景中，可用于电子设备生产环节的质量检测，比如对批量生产的 SMD 相关组件进行信号测试，筛选合格产品；在高校和科研机构中，可作为高频电子技术、数字电路等学科的实验工具，助力学生和科研人员开展高速信号相关的研究实验。