- 产品详情
- 在线询价
- 应用领域
产品概述
核心参数：探头带宽≥1.5GHz，上升时间≤265ps；差分输入电容≤1pF，输入电阻达 200kΩ；支持 1x/10x 两种衰减模式，对应差分输入动态范围分别为 ±850mV 和 ±8.5V，最大输入电压（直流 + 峰值交流）可达 ±25V。共模抑制比在 1MHz 时＞60dB，1GHz 时＞25dB，传播延迟典型值为 5.4ns，电缆长度 1200mm，仅探头重量 160g。
适配与供电：专门适配带 TekVPI™探头接口的示波器，无需额外外接电源，可通过该接口由示波器直接供电。且示波器能自动完成单位缩放和读数，还可远程通过 GPIB/USB 对探头进行控制，大幅简化操作流程。
产品特点
测量保真度高：低至 1pF 的输入电容搭配 200kΩ 的高输入电阻，能显著降低对被测电路的负载效应，避免高速信号出现反射和衰减问题。同时出色的共模抑制能力，可减少复杂共用环境中的测量误差，保障高频信号测量时的完整性和准确性。
适配性与操作性优：采用紧凑型探头头部设计，便于探测小型几何结构的电路元件和表面贴装器件（SMD）。标配直针、Y 型导线适配器、微型 CKT 测试端部等丰富附件，还支持 TwinFoot™适配器等多种选配附件，能满足不同间距测试点位的连接需求。另外可通过示波器探头菜单便捷查看探头状态、诊断信息，还能控制探头直流偏移，操作省心。
使用安全稳定：±25V 的最大输入电压（直流 + 峰值交流）提供了足够的测量裕度，能应对多数低压电路的测量场景，避免轻易因电压波动损坏探头。同时具备自动调零功能，可对输出偏置进行调零，进一步提升长期测量过程中的稳定性。
高速数字系统研发：适配 I²C、CAN/LIN、USB 2.0、以太网（GbE）等多种高速串行总线的设计、验证与调试。比如在 PCIe、串行 ATA 等总线相关的数字设备研发中，可精准捕捉信号细节，助力工程师分析信号完整性、抖动和定时问题，优化系统设计泰克。
电子元器件测试：可用于各类电子元器件的设计和表征，像对高频芯片、高速接口模块等元器件进行性能测试，判断其在不同工况下的信号输出是否符合设计标准，为元器件选型和优化提供可靠数据支撑。
电子制造业质检：在电子设备生产的工程检测环节，能对批量生产的电路板、电子模组等产品进行信号抽检或全检，快速判断产品的电路信号是否达标，助力把控出厂产品的质量稳定性，同时也可用于生产过程中故障产品的快速排查泰克。
科研与教学场景：适用于高校和科研机构中高速电子技术相关的研究项目，既能为科研人员提供高精度的信号测量数据，也可作为教学实验器材，帮助学生直观了解高速差分信号的测量原理和操作方法。