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产品概述
该模块专为高通道密度测试场景设计，单插槽即可提供 5 个通道，相比传统台式源表和常规 PXIe 四通道源表，在相同安装空间内大幅提升了通道数量，且每通道成本更低。其每通道最大输出范围可达 30V/500mA，测量分辨率能达到 6μV/100pA，搭配 PX0107A 低噪声滤波器时，电压源噪声性能可低至 25μVrms。同时具备脉冲测量能力，在 500kSa/s 的采样率下，脉冲宽度最小可至 100μs，能灵活完成从直流到脉冲的多样化测量任务，无缝电流测量量程调节功能还可将动态范围扩展到四个测量量程，减少量程切换耗时。
产品特点
高性价比与高集成度：单插槽集成 5 个通道的设计，解决了多通道测试时设备占用空间大的问题，同时相比多台单通道设备或传统多通道源表，显著降低了每通道的使用成本。这种高集成特性让测试系统能同时测量更多器件，大幅提升测试效率。
测量精准且噪声低：6μV/100pA 的高分辨率可精准捕捉微弱电压和电流信号的细微变化，适配对测量精度要求严苛的场景。加之低电压源噪声性能，能有效减少噪声对测量结果的干扰，保障量子计算相关器件、模拟射频集成电路等噪声敏感型器件或电路测量的准确性。
测量灵活且效率高：不仅能完成常规直流测量，还能实现脉冲测量，适配不同器件的测试需求，比如部分需脉冲供电的半导体器件测试。且依托 PXIe 架构的 PCIe 总线速度和嵌入式电脑控制器优势，测试速度大幅提升，再配合无缝电流测量量程调节功能，省去量程切换的等待时间，进一步缩短整体测试时长。
半导体可靠性测试：随着半导体工艺不断升级，器件可靠性测试项目日益增多。该模块的高通道密度可同时对多个半导体器件开展测试，快速获取器件在不同电压、电流条件下的稳定性数据，助力缩短半导体器件可靠性验证的周期。
集成电路（IC）测试：如今集成电路集成度越来越高，电路评估需要多个精密电源支持。此模块的多通道特性可匹配集成电路多引脚、多电路的测试需求，精准提供不同电路所需的电压和电流，并测量电路响应参数，为集成电路的研发和量产质检提供数据支撑。
精密电子器件研发测试：在量子计算相关器件、模拟 / 射频集成电路等噪声敏感型器件的研发过程中，其低噪声和高精度测量能力，能准确评估器件在不同供电条件下的性能，帮助研发人员排查器件设计或性能上的问题，推动新型精密电子器件的研发进程。