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产品概述
该探头属于是德科技新一代低成本差分有源探头，适配该品牌 InfiniiVision 和 Infiniium 系列示波器的 AutoProbe 接口，可实现自动配置和探头供电。其带宽达 6GHz，上升时间仅 58.3 皮秒，差分模式下输入电阻为 200kΩ±2%，输入电容低至 700 飞法，能最大程度减少对被测电路的负载影响。它支持 2:1 和 10:1 双衰减档位，直流偏置范围为 ±15V，最大输入电压可达 30V 直流 + 峰值交流，搭配手持探针式、焊接式、插孔式三种前端，适配不同测试场景。
核心特点
多模式测量无需换接：依托 InfiniiMode 操作模式，仅用单个探头探针就能完成差分、单端和共模信号的测量，无需重新插拔探头更改连接方式，大幅提升了多类型信号测试的效率，避免频繁换接导致的测试误差。
适配多种信号场景：双衰减档位可根据输入信号大小自动配置，10:1 衰减模式下动态范围达 10Vpp，2:1 衰减模式下为 4Vpp，既能应对高频小信号的精准捕捉，也能适配较大幅度模拟信号的测量，兼容性极强。
操作便捷且适配性强：探头上的快捷按键可控制探头指示灯开关，还能操控示波器的运行 / 停止、自动缩放等常用功能。同时兼容示波器 AutoProbe 接口，搭配不同前端时，可满足手持测试、焊接点测试、夹具配套测试等多种操作需求。
数字系统研发：在高速数字电路设计中，可精准测量芯片引脚、传输总线等部位的差分信号，分析信号完整性，助力排查高频传输中的干扰、失真等问题，为数字系统性能优化提供数据支撑。
差分串行总线测试：适配各类高速差分串行总线的信号测量，能有效抑制共模噪声，清晰捕捉总线传输中的信号时序和幅度特征，保障总线传输的稳定性和可靠性测试。
电子元器件表征：用于半导体器件、高频模块等元器件的研发与质检，可测量元器件在高频工况下的信号输出特性，评估其在不同衰减模式和偏置条件下的性能表现，是元器件性能验证的重要辅助工具。