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一、产品概述
DSOS254A 为 4 模拟通道、2.5GHz 实时带宽（可硬件升级至 8GHz），单 / 双通道 20GSa/s、四通道 10GSa/s 采样率，标配 100Mpts / 通道、最大 800Mpts/2 通道、400Mpts/4 通道 存储深度。采用 10-bit ADC，系统 ENOB>8.1 bits（满带宽），搭配 15 英寸多点触控屏 与 Intel i5 平台，兼顾高精度测量与易用性。
二、核心特点
1. 高保真信号捕获
带宽与采样：4 通道、2.5GHz 实时带宽（可升级至 8GHz）；双通道 20GSa/s、四通道 10GSa/s 实时采样。
垂直精度：10-bit ADC，系统 ENOB>8.1 bits（满带宽），垂直分辨率达 2mV/div。
低噪声：前端低噪声设计，本底噪声低至 130μVrms（满带宽），精准还原微弱信号。
存储深度：标配 100Mpts / 通道，最大 800Mpts/2 通道、400Mpts/4 通道，支持长时信号捕获。
上升时间：约 172ps，精准捕捉高速信号边沿。
2. 高级分析与触发
InfiniiScan 触发：支持边沿、毛刺、脉冲宽度、建立 / 保持、序列触发等复杂事件捕获。
信号完整性分析：硬件加速眼图、抖动（TIE/RJ/DJ）、浴盆曲线、模板测试。
频谱分析：内置频谱查看器，支持门控 FFT，时域 / 频域同步分析。
协议测试：可选 USB、PCIe、SATA、以太网等串行总线一致性测试软件。
3. 易用与扩展
15 英寸电容触控屏：多点触控、手势缩放 / 平移，操作高效。
硬件平台：Intel i5 + 8GB RAM + SSD，启动快、处理强、数据导出快（USB 3.0 达 200MB/s）。
接口丰富：LAN、USB 3.0、GPIB，支持 LXI 与远程自动化。
探头兼容：支持有源 / 差分 / 电流探头，适配各类信号测量。
高速数字电路：PCIe Gen 2/3、USB 3.0、SATA 6G、DDR 等总线的眼图、抖动、时序测试。
嵌入式与消费电子：MCU/SoC、电源、高速接口、射频前端的信号完整性与噪声分析。
通信与射频：4G/5G 基带、射频脉冲、调制信号、功放线性度测试。
半导体与器件：高速 I/O、电源噪声、功率器件开关特性、传感器微弱信号测量。