国家仪器 PXIE-4139 系统源测量单元
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国家仪器 PXIE-4139 系统源测量单元

供应商:四川省仪测信商贸有限公司
品牌:国家仪器
型号:PXIE-4139
产地及成色:进口二手
更新时间:2026-11-10 16:22:01
浏览次数:121
产品价格: 面议
供应商联系方式:18126443402
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一、产品概述

PXIe-4139 为 PXIe 总线单槽模块,核心定位高精度、宽功率、高速源测一体化,支持四象限工作(源 / 载双向),直流功率达40W,脉冲功率最高500W。可输出 ±60V电压、±3A直流电流、±10A脉冲电流,电流测量分辨率达100fA,采样率最高1.8MS/sNI。搭载SourceAdapt 自适应控制技术,适配容性 / 感性负载,兼顾稳定性与精度,广泛用于半导体、光电器件、电源管理芯片的研发与量产测试。

二、产品特点

1. 宽功率与四象限能力

电压 / 电流范围:直流±60V、±3A,脉冲±10A,覆盖低压小信号到高压大电流场景。

功率输出:直流40W、脉冲500W,支持源 / 载双向四象限运行,可测试有源 / 无源器件。

脉冲扩展:支持大电流脉冲测试,降低 DUT 发热,适配大功率器件快速 IV 扫描。

2. 超高精度测量

电流分辨率:100fA,精准捕捉微安 / 纳安级漏电流、暗电流。

电压 / 电流精度:全量程高线性度,满足半导体器件参数测试的严苛要求。

高速采样:1.8MS/s采样率,可捕获瞬态响应与动态特性。

3. SourceAdapt 自适应技术

可编程瞬态补偿,自动匹配负载特性,抑制过冲 / 振荡,保护 DUT 与仪器。

优化容性 / 感性负载响应,缩短稳定时间,提升测试效率。

1. 半导体器件测试

IC/PMIC/RFIC:漏电流、击穿电压、IV 特性、电源管理芯片效率与动态响应测试。

功率器件:MOSFET、IGBT、二极管的导通 / 关断特性、栅极电荷、安全工作区(SOA)测试。

分立器件:LED、光收发器、传感器的光电特性、暗电流、响应速度测试。

2. 板级与系统测试

电源模块、DC-DC/AC-DC 转换器的负载特性、效率、纹波与瞬态响应测试。

汽车电子、工业控制板卡的高低压供电、保护电路、功耗测试。

3. 研发与实验室特性分析

新型半导体材料、功率器件、光电器件的基础特性与可靠性研究。

高精度电流 / 电压源、精密测量系统搭建,适配科研与小批量验证。