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一、产品概述
核心定位:脉冲函数任意噪声发生器 (Pulse Function Arbitrary Noise Generator)。集高精度脉冲、函数、任意波形与噪声发生于一体。
核心性能:
脉冲:最高 330 MHz,边沿速度 < 1 ns。
正弦波:最高 500 MHz。
任意波形:14 位分辨率,2.5 GSa/s 采样率。
噪声:内置高斯白噪声(可选波峰因数)。
通道配置:双通道,每通道均为 差分输出,可独立、耦合或叠加。
可选功能:内置码型发生器(可选),支持最高 660 Mbit/s 码流输出。
二、核心产品特点
高速、低抖动、高精度
超快边沿:脉冲上升 / 下降时间最快 0.8 ns(典型值),完美匹配高速数字电路测试。
超高时间分辨率:1 ps 时间分辨率,精准控制时序。
宽幅输出:50Ω 负载下输出 5 Vpp,开路可达 10 Vpp,满足不同器件驱动需求。
低相位噪声:信号纯净,适用于射频激励与时钟模拟。
全能型信号生成(四合一)
标准波形:脉冲、正弦、方波、斜波、噪声。
任意波形:2.5 GSa/s 采样率,14 位垂直分辨率,可模拟复杂失真信号。
噪声功能:内置高斯白噪声,波峰因数(CF)可调,用于极限抗干扰测试。
码型发生(可选):生成 PRBS 及用户自定义码型,速率高达 660 Mbit/s,支持多电平信号。
强大的信号模拟与调试能力
无毛刺参数切换:频率、脉宽、边沿等参数实时修改无毛刺,确保测试连续不中断。
先进失真模拟:可模拟占空比失真、非对称延迟、电平噪声、通道容性负载等非理想效应。
丰富调制:支持 AM, FM, PM, FSK, PWM 及双脉冲调制。
高速数字与串行总线测试
PCIe、USB、SATA、HDMI 等高速接口的接收端灵敏度与容限测试。
模拟信号抖动、噪声、边沿退化,验证芯片 / 系统在恶劣条件下的稳定性。
半导体与集成电路测试
高速逻辑芯片、ADC/DAC、存储器的时序验证与特性分析。
模拟芯片的压摆率、建立时间、抗干扰能力测试。
通信与射频系统
雷达、传感器的脉冲激励信号源。
射频组件(放大器、滤波器)的频响、非线性测试。
通信接收机的基带信号与噪声干扰模拟。
