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一、产品概述
2614B 是四象限、双通道精密源测量单元（SMU），每通道可独立输出 / 测量电压与电流，支持直流、脉冲、扫描多种模式，提供 fA 级（飞安）微弱电流与 nV 级（纳伏） 电压测量能力，单通道最大输出 200V / 10A / 200W，适合从低功耗芯片到大功率器件的全场景表征。
通道数：2 个独立 SMU 通道
电压范围：±200V（源 / 测）
电流范围：±10A（直流）、±20A（脉冲 / 峰值）
功率：单通道 200W，双通道 400W
测量分辨率：电流 100fA，电压 100nV，6.5 位精度
通信接口：LAN、USB、GPIB、TSP-Link（多机级联）
核心技术：TSP（Test Script Processor）嵌入式测试脚本
二、产品特点
1. 四象限全能型 SMU
源测一体：单台仪器集成精密电源、电流源、6.5 位万用表、任意波形发生器、脉冲发生器、电子负载六大功能。
四象限工作：可作为源（输出功率）或负载（吸收功率），覆盖正偏、反偏、击穿、雪崩全特性测试。
宽范围覆盖：从 nV/fA 级微弱信号到 200V/10A 大功率输出，无需切换仪表。
2. 双通道独立控制
两通道完全隔离、独立设置，可同步或时序控制，支持双器件并行测试或复杂偏置（如栅压 / 漏压同步扫描）。
通道间无干扰，适合CMOS、三极管、光耦、二极管阵列等多端器件测试。
3. 高速脉冲与低噪声
脉冲模式：最小脉宽 100μs，峰值电流 20A，降低自热效应，适合大功率器件、易损半导体、LED 可靠性测试。
超低噪声：fA 级电流测量无漂移，nV 级电压稳定，适配传感器、光电二极管、单电子器件等微弱信号场景。
高吞吐：TSP 嵌入式处理器，PC 指令通信速度提升 190%，测试序列本地执行，减少延迟。
1. 半导体器件测试
晶圆 / 芯片：MOSFET、IGBT、BJT、二极管、晶闸管 IV 特性、击穿电压（Vbr）、漏电流（Ileak）、栅极电荷（Qg）测试。
功率器件：SiC/GaN 宽禁带器件、功率二极管、模块的高压、大电流、脉冲可靠性验证。
射频 / 模拟 IC：低噪声放大器、稳压器、开关的静态参数、功耗、漏电流表征。
2. 光电器件与显示
LED/OLED：正向电压、亮度电流、效率、寿命、热特性测试。
光电二极管 / APD：暗电流、光电流、响应度、量子效率测量。
激光器 / VCSEL：阈值电流、斜效率、P-I-V 特性、老化测试。
显示面板：TFT、OLED 像素、背光驱动的漏电、导通电阻、功耗测试。
3. 传感器与无源器件
MEMS / 压力 / 气体传感器：微弱电流 / 电压响应、灵敏度、温漂、可靠性测试。
电阻 / 电容 / 电感：高精度阻值、容值、阻抗、温度系数（TCR）测量。
电池 / 超级电容：充放电曲线、内阻、容量、循环寿命、自放电测试。