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一、产品概述
类型:PXIe 高速数字化仪 / 示波器模块
通道:2/4 通道同步采样(4 通道为主流型号)
带宽:500 MHz(50Ω)、300 MHz(1MΩ)
采样率:单 / 双通道 2.5 GS/s;四通道 1.25 GS/s
分辨率:10 bit(高于传统 8 位示波器,动态范围更佳)
板载存储:64 MB / 2 GB(可选)
总线:PXIe Gen1 x4(800 MB/s 持续流盘)
尺寸:3U、单槽 PXIe,重量 430 g
二、核心性能特点
1. 高速高分辨率采集
10 bit 垂直分辨率:60 dB 动态范围,小信号保真度远优于 8 位,适合射频包络、高速 ADC、低电平传感器测试。
500 MHz 满带宽:覆盖高速数字(USB3.0/PCIe/SATA)、射频 IF、雷达脉冲、激光驱动等高频信号。
2.5 GS/s 实时采样:无插值还原 500 MHz 信号细节,支持等效采样(100 GS/s) 扩展高频观测。
2. 深存储与高速流盘
2 GB 超大板载内存:2.5 GS/s 下可连续采集 0.8 秒,长脉冲、瞬态、批量捕获不丢点。
PXIe 流盘:800 MB/s 持续传输至硬盘,支持小时级不间断采集(搭配高速硬盘 / RAID)。
分段存储(Sequence Mode):触发事件独立分段,记录数千次瞬态 / 脉冲,适合半导体可靠性、雷击测试。
3. 高精度触发与同步
亚纳秒触发:4.7 ps 触发抖动,边沿 / 脉冲 / 视频 / 序列 / 软件触发,支持预 / 后触发(最长 100 ms)。
NI-TClk 同步:多模块(≤16 张) 通道间 <50 ps 时延偏差,构建 64 通道 同步采集系统。
CableSense™(可选):线缆 / 连接器故障诊断,定位阻抗不连续、短路、开路,提升 ATE 系统稳定性NI。
半导体测试:高速存储器(DDR5/HBM)、SerDes、激光驱动、电源管理芯片瞬态测试
通信与雷达:5G/6G 中频、雷达脉冲、卫星通信、信号完整性(SI)验证
汽车电子:自动驾驶传感器、车载以太网、逆变器、ECU 高速信号测试
自动化测试(ATE):产线高速板卡 / 模块测试、多通道同步采集、长时可靠性验证
