HIOKI/日本日置 IM7580 阻抗分析仪

一、产品概述

类型：高频阻抗分析仪（IM7580A 为基础型号，频率覆盖 1 MHz–300 MHz）

核心能力：集成 LCR 测量、扫频分析、连续监测与等效电路分析，支持多参数同步表征

测量范围

阻抗 Z：100 mΩ–5 kΩ（精度保证范围）

电感 L：约 0.0266 nH–1.32 μH（随频率变化）

电容 C：约 0.0531 pF–2.65 nF（随频率变化）

关键指标

基本精度：Z 为 ±0.72% rdg.，θ 为 ±0.41°

测量速度：最快 0.5 ms（模拟测量时间），大幅提升产线效率

信号电平：功率模式 -40.0 dBm–+7.0 dBm，电压 / 电流模式覆盖宽范围

频率步进：100 Hz–10 kHz（依频段自动切换），分辨率高

人机交互：8.4 英寸彩色触摸屏，支持多参数同屏显示与放大，操作直观

二、核心产品特点

1. 高速高精度，高频稳定

采用自动平衡电桥与高速 FPGA 处理，兼顾0.5 ms 超短测量时间与±0.72% 高准确度 ，满足研发与产线双重需求。

高频相位精度优异（θ < 0.5°），适配谐振点、Q 值等精细测量。

2. 全参数测量与深度分析

可测 Z、Y、θ、Rs/Rp、X、G、B、Ls/Lp、Cs/Cp、D（损耗系数）、Q（品质因数） 等全参数，支持多参数同时监控。

分析模式：支持频率 / 信号电平扫描、分段扫描与时间间隔监测，可一键生成 Bode 图、Nyquist 图，直观表征频率特性与时域稳定性。

等效电路分析：提供 5 种经典电路模型（如串联 / 并联 R-C、R-L），自动拟合参数并模拟频率响应，辅助器件建模与失效定位。

3. 工业级易用与可靠

紧凑设计：半机架主机（215×200×268 mm，6.5 kg）+ 手掌大小测试头，桌面、产线与实验室均可灵活部署。

接触检查：内置 DCR 测量、Hi-Z 筛选与波形判定，快速排查接触不良，降低误测风险。

产线适配：支持比较器 / 区域判定 / BIN 分类，可预设上下限自动判 NG，兼容自动化测试流程。