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一、产品概述
类型:3U PXIe 矢量信号收发器(VST)
核心集成:VSG + VSA + Xilinx FPGA + 24 通道高速数字 I/O
频率范围:65 MHz – 6 GHz(收发双向)
瞬时带宽:80 MHz(数字均衡,≤109 MHz 时带宽限制为 20 MHz,109–375 MHz 为 40 MHz)
采样率:120 MS/s(16 bit ADC/DAC,基带 I/Q 通道)
基带 I/Q:2 通道,支持 差分 / 单端 两种配置,总复带宽 80 MHz
FPGA:Xilinx Virtex‑6 LX195T(资源介于 5644R 与 5646R 之间)
定位:中宽带射频测试主力,兼顾性能与成本,适合需同时覆盖射频与基带测试的场景。
二、核心产品特点
1. 80 MHz 中宽带覆盖,射频与基带一体
带宽均衡:80 MHz 瞬时带宽,完美支持 802.11ac 80 MHz、LTE 20 MHz×4 载波聚合 等主流宽带标准,比 5644R(80 MHz 带宽)带宽一致,比 5646R(200 MHz)成本更低。
I/Q 接口优势:差分 / 单端可选,单台仪器即可完成 射频上变频 + 基带下变频 同步测试,简化系统架构,提升测试效率。
高速采样:120 MS/s 采样率,确保宽带信号 I/Q 数据无失真采集与生成。
2. 可编程 FPGA 实时处理
Virtex‑6 LX195T 提供充足资源,支持 自定义调制解调、数字预失真(DPD)、闭环控制 等算法。
硬件加速:FPGA 内实现实时解调、测量与触发,微秒级低延迟,适配 MIMO 与多通道并行测试。
相位相干:收发共享本振(LO),支持多模块级联构建 2×2/4×4 MIMO 系统,相位一致性优异。
3. 高性能射频指标
输出功率:最大 +10 dBm,动态范围覆盖研发与产线常规需求。
测量精度:20 MHz 带宽 64‑QAM EVM 典型值 ≤ -40 dB,频谱纯度高,满足 5G/Wi‑Fi 高精度测试。
低相位噪声:<3 GHz 时相位噪声 -99 dBc/Hz(20 kHz 偏移),适合低噪声放大器、滤波器等器件测试。
自动校准:内置自校准,温度漂移 ±5 ℃ 时自动补偿,保证长期测量稳定性。
中宽带无线通信测试
5G NR(FR1)、LTE‑Advanced 载波聚合、802.11ac 80 MHz 带宽测试,验证 EVM、ACLR、频谱掩模等关键指标。
射频组件与芯片研发
功率放大器(PA)DPD 测试、射频开关、滤波器、射频开关的频响与线性度验证,支持基带与射频联合调试。
MIMO 与多天线系统
多模块相位相干同步,测试 2×2/4×4 MIMO、波束成形等技术,适用于基站终端与物联网设备验证。
