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一、产品概述
E8358A 属于经典的 PNA 系列高端网络分析仪，用于在频域精确测量双端口器件的幅度、相位、反射（S11/S22）与传输（S21/S12） 等 S 参数特性。
频率范围：300 kHz 至 9 GHz
通道 / 端口：4 个接收器，2 个测试端口
核心定位：兼顾研发高精度与生产高速度，支持晶圆 / 夹具测量、有源器件测试、噪声参数、平衡器件等扩展应用
二、产品特点
1. 核心测量性能
动态范围：测试端口 128 dB；直接接收机访问 143 dB
扫描速度：35 µs / 点，高速量产测试
迹线噪声：典型 0.002 dB rms，低噪声、高稳定性
源功率：-85 dBm ~ +10 dBm（50 Ω 系统）
阻抗：标准 50 Ω，支持平衡测量选件
2. 硬件与校准特性
标准配置：内置源衰减器、偏置 Tee（Bias-Tee）、直接接收机访问
校准支持：
TRL/LRM 校准（晶圆 / 夹具测量）
电子校准（ECal，USB 控制）
SOLT、响应校准等常规方法
多通道：16 个独立测量通道，并行多参数测试
3. 软件与自动化
系统：Windows 2000 操作系统
编程：SCPI、COM/DCOM 远程控制
兼容：支持安捷伦噪声系数、平衡器件、脉冲 RF 测试系统
接口：GPIB、USB、LAN、VGA、鼠标 / 键盘
1. 射频无源器件测试
滤波器、双工器、耦合器：插损、回波、带内波纹、抑制比
电缆 / 连接器：衰减、驻波、相位一致性
功分器、衰减器、负载：S 参数全频段表征
2. 有源器件测试
放大器（LNA/PA）：增益、P1dB、IP3、噪声系数（选配）
混频器、变频器：变频损耗、隔离度、相位噪声
射频 IC、收发模块： bias-tee 直接供电测试
3. 半导体与晶圆测试
RFIC/MMIC 晶圆测量（配合探针台）
片上元件（电感、电容、传输线）参数提取
高速数字 / SerDes 信号完整性、阻抗测试