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一、产品概述
4294A 定位为中高频段精密阻抗测量平台,覆盖 40 Hz 至 110 MHz 频率、10 mΩ~200 MΩ 阻抗范围,可精准测量 Z、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q 等 20 余种参数,并支持等效电路自动拟合与直流偏置模拟真实工况。
频率范围:40 Hz ~ 110 MHz(分辨率 1 mHz)
基本精度:±0.08%(阻抗)、±0.05°(相位)
阻抗范围:10 mΩ ~ 200 MΩ(典型)
测试信号:5 mVrms ~ 1 Vrms / 200 μArms ~ 20 mArms
直流偏置:±40 V(电压)、±100 mA(电流)
测量架构:四端对(4TP) 标准输入
显示与接口:彩色 LCD、GPIB/USB/RS-232、支持自动化程控
二、产品特点
超高精度与宽频覆盖
±0.08% 阻抗精度、±0.05° 相位精度,适合低损耗元件(高 Q、低 D)精密分析。
40 Hz~110 MHz 覆盖民用 / 工业绝大多数无源元件频域特性。
1 mHz 频率分辨率,精准捕捉谐振点与频变特性。
四端对(4TP)测量技术
彻底消除测试线缆电阻 / 电感 / 电容干扰。
极低阻抗(mΩ 级)与极高阻抗(MΩ 级)均可稳定测量。
支持开 / 短 / 负载校准 + 端口扩展,高频夹具误差极致补偿。
真实工况模拟(直流偏置)
±40 V/±100 mA 宽范围直流偏置。
可测电解电容、功率电感、变容二极管、压电材料在工作电压 / 电流下的真实特性。
恒压 / 恒流模式、偏置实时监控。
强大分析与建模能力
等效电路拟合:串联 / 并联 / RLC/3~4 元件自动建模。
多参数同步显示:Z/θ、L/C/R/D/Q、G/B 等实时绘图。
分段扫描、列表扫描、偏置扫描:复杂条件下特性表征。
高速测量:≥500 kHz 时3 ms / 点。
无源元件研发与质检
MLCC、陶瓷 / 铝电解电容:容量、ESR、D、频变、偏压特性。
功率电感、绕线电感、磁珠:L、DCR、Q、饱和特性、阻抗频谱。
电阻、晶振、滤波器、变压器:高精度参数与频响测试。
材料科学研究
介电材料:介电常数、损耗因子、频率 / 温度特性。
磁性材料:磁导率、损耗、磁芯特性。
压电 / 铁电 / 半导体材料:偏压依赖特性、阻抗谱分析。
半导体与封装测试
晶圆 / 芯片:寄生参数(L/C/R)提取、I/O 端口阻抗。
封装 / 引线框架:高频寄生、阻抗匹配分析。
二极管、MOSFET:结电容、非线性阻抗、偏置特性。
