- 产品详情
- 在线询价
- 应用领域
一、产品概述
E8362C 属于高端 PNA 系列,核心用于精确测量射频 / 微波器件的 S 参数(幅度、相位)、阻抗、群延迟、增益、隔离度 等关键指标。它以极低噪声、超高动态范围和超快测量速度著称,能满足从无源器件(滤波器、连接器)到有源器件(放大器、混频器)的严苛测试需求。。
核心定位:20 GHz 频段通用型高性能网络分析平台。
关键规格:
频率范围:10 MHz ~ 20 GHz
动态范围:123 dB(典型值)
迹线噪声:< 0.006 dB
测量速度:< 26 μs / 点
通道数:32 通道
最大测量点:20,001 点
输出功率:+10 dBm 标称
二、产品特点
卓越的测量精度与稳定性
123 dB 超大动态范围,可同时测量极强与极微弱信号,精准分析高抑制滤波器、隔离器等器件。
< 0.006 dB 超低迹线噪声,保证测量数据的重复性与可信度,适合小信号、高损耗器件测试。
频率精度达 ±1 ppm,输出分辨率 0.01 dB,参数控制精准。
高速测试能力
单数据点测量时间 < 26 微秒,大幅缩短产线测试周期,提升效率。
支持 32 通道同步测量与最多 20,001 点扫描,满足复杂多端口器件与高分辨率频谱分析需求。
全面的校准与测量应用支持
支持 TRL/LRM 等高级校准技术,适配 晶圆探针(On-wafer)、夹具内(In-fixture)、波导、天线 等复杂测试环境,有效消除系统误差。
内置专业测量应用软件,可直接测试:
混频器:转换损耗、隔离度、绝对群延迟。
放大器:增益压缩、谐波、互调失真(IMD)。
脉冲射频:支持脉冲信号测量与分析。
强大的硬件与软件扩展性
可选 时域分析功能(选件 010),可进行故障定位、阻抗分布分析、滤波器调谐。
可选 可配置测试集(选件 014),灵活适配 2/4 端口及多端口测试。
支持多窗口、多轨迹(24 条 / 窗口)显示,提供史密斯圆图、极坐标等多种格式,便于数据分析。
射频 / 微波无源器件测试
滤波器、双工器、耦合器的插损、回波损耗、驻波比(VSWR)、带外抑制测试。
连接器、电缆组件、衰减器的一致性与可靠性验证。
波导元件、天线的阻抗匹配与辐射特性分析。
有源器件与模块测试
射频功率放大器(PA)、低噪声放大器(LNA)的增益、压缩点、噪声系数、谐波失真测试。
混频器、上 / 下变频器的变频损耗、端口隔离、群时延测试。
收发组件(T/R)、射频前端模块的多端口参数测试。
半导体与晶圆测试
射频集成电路(RFIC)、MMIC 晶圆在片(On-wafer)直流与射频参数测试。
半导体材料、功率器件的高频特性表征。
