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一、产品概述
型号：Agilent / Keysight 83484A
类型：双通道电信号测量模块（插件）
带宽：DC ~ 50 GHz（可切换至 26.5 GHz 以优化噪声）
通道数：2 独立电通道
连接器：2.4 mm（公头），50 Ω 阻抗
RMS 噪声：0.46 mV（26.5 GHz）/ 0.75 mV（50 GHz）
最大输入：±2 Vdc
触发带宽：2.5 GHz / 12.5 GHz（由主机决定）
兼容主机：83480A、86100A/B/C/D (DCA/DCA-J/DCA-X)
二、产品特点
1. 超宽频高性能
双频切换：50 GHz 全带宽保真高速信号；26.5 GHz 模式降低噪声，提升小信号测量精度。
低噪声高灵敏度：亚毫伏级底噪，精准捕捉高速数字信号的微小幅度波动与噪声。
宽动态范围：支持从毫伏级到伏级信号，覆盖芯片输出至系统级测试。
2. 双通道精密同步
双通道相干测量：精确相位与时延同步，适合差分信号、高速总线及多通道系统测试。
高带宽触发：支持 12.5 GHz 高速触发，锁定 40 Gb/s+ 信号，确保眼图与抖动分析稳定。
3. 模块化与多功能
即插即用：标准模块插槽，与光模块（如 83482A）混插，构建光电一体测试系统。
完整通信测试：配合主机实现 眼图、掩码测试、抖动分解（RJ/DJ/TDJ/PJ）、TDR/TDT 阻抗与 S 参数分析。
1. 高速光通信
40G/100G/400G 光模块：电接口（CDR、TIA、Driver）波形、眼图、抖动、消光比测试。
高速互连：背板、高速电缆、连接器的信号完整性（SI）与阻抗测试。
标准一致性：SONET/SDH、10G/40G/100G Ethernet、OTN 发射机合规测试。
2. 高速数字与半导体
芯片设计：高速 SerDes、ASIC、FPGA 输出信号质量验证。
先进总线：PCIe 4.0/5.0、USB4、CEI 等物理层测试。
晶圆测试：On-wafer 高速射频 / 微波器件、MMIC 表征。
3. 射频与微波
毫米波组件：5G 射频前端、雷达、卫星通信的宽带信号测试。
脉冲与宽带信号：电子战、雷达系统的瞬时信号捕获与分析。
4. 研发与质检