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一、产品概述
类型：单端有源探头（Single-ended Active Probe）
带宽：DC ~ 2 GHz（-3dB）
衰减比：10:1
接口：AutoProbe（是德专用接口，免外部供电）
核心定位：1 GHz 示波器标配级高速探头，替代传统无源探头，解决高频信号负载效应
二、产品特点
超低负载，高信号保真
1 MΩ 高阻 + 1 pF 超低容，对被测电路（DUT）负载极小
测量高速数字信号（DDR、PCIe、千兆以太网） 不畸变、不振铃
AutoProbe 智能接口
即插即用，示波器自动识别探头、自动配置量程 / 衰减
直接从示波器取电，无需外接电源 / 电池
宽电压 + 大偏移
±8V量程覆盖主流1.8V/2.5V/3.3V/5V逻辑电平
±12V偏移可测带直流偏置的交流信号、负电源、电池电压
易用设计
探头尖端内置 LED 前照灯，照亮密集 PCB，便于暗环境 / 狭小空间操作
标配多种探针头（接地尖、弹簧钩、焊接点），适配不同测试点
低成本高性能
价格亲民，2 GHz 有源探头性价比之选
坚固耐用，适合研发实验室、产线测试长期使用
高速数字电路设计
计算机 / 服务器：DDR3/DDR4/DDR5 内存总线、PCIe、SATA、USB 3.0/4.0 信号完整性
通信设备：千兆 / 万兆以太网、光纤模块、高速 SerDes 信号测试
嵌入式系统：FPGA/ASIC 高速 I/O、时钟信号（100MHz~1GHz）、高速 ADC/DAC
高频模拟与射频电路
RFIC / 射频模块：小信号放大、混频器、锁相环（PLL）输出波形
信号发生器 / 频率合成器：输出信号校准、失真分析
高速光通信：激光驱动器、TIA 跨阻放大器信号测量
半导体器件测试
芯片 characterization：MOSFET/BJT 高频特性、栅极电荷、开关速度
晶圆测试 / 封装测试：低电容探针台、高速芯片引脚信号捕捉